【求助】跪求高手帮忙解析 高分辨照片及电子衍射图

出现这些弱电子有可能是由于晶体叠加产生的，也有可能是由于存在调制结构。第二张高分辨像应该与第三张电子衍射谱相对应吧。你还有别的高分辨吗？你贴的那张高分辨上看起来有晶体叠加在一起，这些弱斑点有可能是由于晶体叠加而产生的。所以也不好确定。
第一张衍射谱的标定有问题，负号加的位置不对，不满足平行四边形法则。

首先感谢1楼的热心帮忙，在此表示衷心感谢！确实我的那张衍射图的标定有问题，应该将（1 －1 －1）的衍射点改为（-1 1 1）是不是就对了？
另外我不懂你所说的调制结构是一种什么样的结构？有无参考文献可以拜读？还有需要说明的是我的这个晶体结构是ZnO包覆的Si纳米线并于600℃烧结以后得到的，从高分辨上能够看到他们的晶界，做TEM的老师（有色金属研究院刘老师）说它们的晶格有共轭关系，但是从衍射斑点上来看Si的衍射斑点依然能够分辨出来，并和原来的Si纳米线的衍射点阵完全符合，而剩下的衍射点阵和ZnO的根本不相符，d值计算结果以及高分辨的测量结果也不能和数据库对应起来，差别很大。至于衍射点阵和高分辨像的区域能不能完全对应我说不上，贴上不同区域的高分辨像请楼上的高手帮忙看看！

你做能谱了吗？比如下图中我标注的两个地方成分上有差别吗？

我从一张高分辨中选择两个区域来进行fourier变换，2区的晶面间距正好等于1区晶面间距的三倍。从高分辨像来开，我觉得这些弱斑点是由于晶体叠加而产生的，而且在你发的高分辨像中这个还挺明显，这是生长过程中产生的呢？还是简单的晶体叠加就要靠你自己分析了。
个人意见仅供参考！

在你的高分辨像中细条纹应该是Si吧。你可以仔细观察一下，在你的高分辨像中（如下图）黑颗粒与非晶区叠加的区域（1区）不会出现3d的粗条纹，但黑颗粒与Si叠加的区域（2区）就会出现3d的粗条纹。

很典型的二次衍射造成的摩尔条纹。只不过不在zone axis上，是一维条纹。此类高分辨分析不容易。建议找到薄区再作一下。

感谢楼上老师的热心帮忙！很遗憾的是有色金属研究院的2010电镜没有成分分析的配件，但是刘老师说较细的条纹是Si的晶格像，粗条纹为ZnO的晶格像.

还有请教一下那个电子衍射的如何解释呢？是Si与ZnO之间形成了二次衍射?