波长色散x荧光更换FC窗膜后，所有元素测量强度大幅下降

需要PHD校正

校准完了还是不行 问问厂家工程师

必须要做校正，印象中是做高压校正+飘逸校正！

谢谢各位的回复。已做PHA校正，检测器峰值正常（在200处，）做漂移校正系数各元素都在1.4左右，各元素测量强度降低25%， 问题依然存在。我详细介绍一下我使用的仪器，以便于各位分析。理学supermini，下照射扫描型，结构简单，光路如下（x射线管-样品-前置准直器-晶体（三个）-后置准直器-检测器（FC和SC））。我现在用它分析粉末样品，不妥但没选择。下面是我的原因分析：因为使用FC和SC的元素都存在同样问题，可排除晶体（因使用不同晶体），我考虑是共用部分（x射线源和共用光路）出现异常。另我在换窗膜前顺便清洁了样品室，可能不小心导致粉尘落入分光室，我觉得很可能是光管Be窗或（和）前置准直器被粉末污染。 打开真空闸，可看到光管Be窗，但难以分辨是否有粉尘落在上面。前置准直器尚未检查，因为得拆开分析室上端，维修手册上没有说明，不敢冒然行动。现在仪器抽真空正常（3Pa）。不知道我的分析是否正确，请指教。问题：如何清扫Be窗和真空室（前置准直器）粉尘？欢迎同行提供宝贵意见和建议。如哪位大侠遇到类似问题，请不吝赐教。谢谢。

如果你确定晶体没问题，就有可能是测角仪角度偏移，做一下各元素角度扫描、清理测角仪上的传感器看看，还有入射狭缝、准直器。