在回归校正“干扰谱线”的重叠影响时，干扰谱线的信息要明细到啥程度呢

应助达人

1. 我猜II是高次线的意思，你所看的书应该对这个标记有说明的吧，
2. 应该只需要输入ZrKa就可以了
不过建议你还是和厂家的应用工程师确认。

应助达人

谢谢你的解答。

1. 我猜II是高次线的意思，你所看的书应该对这个标记有说明的吧，

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高次线（是否还有低次线）是咋回事呢？ 我主要看的是论文，没有涉及这方面知识。


2. 应该只需要输入ZrKa就可以了


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我看了一下工程师给我们所建的曲线，谱线干扰和你所说的一致。

计算时不选取之类之类的，问应用工程师吧！

应助达人

样品发出来的荧光，包含了各种元素的信息，就像一团浆糊。一团浆糊是没有办法分析的，WDXRF中，使用布拉格反射分光。使用不同的晶体如LiF、PET等等，不同波长的荧光其反射角（衍射角）不一样，2dsinθ = n λ，对于同样的衍射角θ而言，当n=1时，会有某个波长满足这个式子，当n=2时也会有另外的波长满足这个式子。比如你举的例子表格中45.92°，HfLa1满足n=1的情况， ZrKa的波长接近满足n=2的情况，所以ZrKa的二次线就在HfLa1谱线附近，这就是高次线干扰。如果样品中含有Zr比较高，Hf比较低，就需要考虑Zr高次线的干扰。在土壤、陶瓷这类样品中，需要特别注意这一点。

应助达人

你现在的进度，不建议看论文，而是建议你去看看《X射线荧光光谱分析基础》，梁钰编写的。这个书比较简单一些，真正要看的内容200页不到，可以依赖此书迅速入门，掌握XRF理论的大框架。吉昂老爷子的书实例比较少，读起来比较难一些。罗立强的书，基本原理部分有些错误，看的时候要当心，从那些错误来看，罗显然没有选修过普通物理之类的课程，呵呵。

梁钰这本书大赞，简单易懂，很多总结性的东西，附录后面那个谱线干扰表查询方便，我是看这本书入门的。后来才看吉昂老师的书，理论性强一些，知识性也更强。

应助达人

样品发出来的荧光，包含了各种元素的信息，就像一团浆糊。一团浆糊是没有办法分析的，WDXRF中，使用布拉格反射分光。使用不同的晶体如LiF、PET等等，不同波长的荧光其反射角（衍射角）不一样，2dsinθ = n λ，对于同样的衍射角θ而言，当n=1时，会有某个波长满足这个式子，当n=2时也会有另外的波长满足这个式子。比如你举的例子表格中45.92°，HfLa1满足n=1的情况， ZrKa的波长接近满足n=2的情况，所以ZrKa的二次线就在HfLa1谱线附近，这就是高次线干扰。如果样品中含有Zr比较高，Hf比较低，就需要考虑Zr高次线的干扰。在土壤、陶瓷这类样品中，需要特别注意这一点。[/quote]

谢谢你热情耐心的解释，我听明白啦。确实，土壤中Zr含量要比Sr高一个数量级。

应助达人

谢谢你的好建议，不过我有点悲催，按照厂家工程师的建议购买了吉老师、罗老师、张老师为第一编者的三本书----我干脆不看罗老师的书啦，吉老师的书确实让我头大看不下去，今后我会买梁老师的书。

应助达人

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你现在的进度，不建议看论文，而是建议你去看看《X射线荧光光谱分析基础》，梁钰编写的。这个书比较简单一些，真正要看的内容200页不到，可以依赖此书迅速入门，掌握XRF理论的大框架。吉昂老爷子的书实例比较少，读起来比较难一些。罗立强的书，基本原理部分有些错误，看的时候要当心，从那些错误来看，罗显然没有选修过普通物理之类的课程，呵呵。[/quote]

梁钰这本书大赞，简单易懂，很多总结性的东西，附录后面那个谱线干扰表查询方便，我是看这本书入门的。后来才看吉昂老师的书，理论性强一些，知识性也更强。[/quote]

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谢谢你的经验之谈，以后要多帮助我们这帮落后生。