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TEM样品thickness effect 讨论

黄石道人

2015/09/26

透射电镜（TEM）

大家好，
TEM样品用于观察现象的薄区厚度一般在100nm以下。
对于原位实验（in situ TEM），所观察的实验现象，受不受 thickness effect（表面能，电子束方向的厚度约束等）影响？
换言之，TEM中得到的实验现象与大块试样的实验现象是否一致？
例如，in situ TEM中界面迁移行为与块体样品中界面行为的对比：in situ TEM中界面是否收到样品表面的影响。
PS. 课题不是讨论thickness effect对TEM观察现象的影响；现在题主做了一个in situ TEM的加热实验，未雨绸缪，怕审稿人问thickness effect这个问题。
当然不同的现象，thickness effect可能影响不一样，希望大家附上参考文献。

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mercurycat

第1楼2015/09/28

问题要讲清楚点，什么样品做的什么in-situ实验？成像还是分析？不同情况不同分析

0

洪星二锅头

第2楼2015/09/30

问题读得这么拗口，TEM都会受到厚度的影响

0

黄石道人

第3楼2015/10/02

就不在问题改了。直接回复你吧。
Fe的相变。原位加热。
高分辨研究界面运动行为。
此时得到的界面运动规律和实际块体材料中界面运动的规律有区别？
mercurycat(mercurycat) 发表:问题要讲清楚点，什么样品做的什么in-situ实验？成像还是分析？不同情况不同分析

0

mercurycat

第4楼2015/10/03

没有区别，除非样品制备或转移样品时造成表面污染。
黄石道人(v2722760) 发表: 就不在问题改了。直接回复你吧。
Fe的相变。原位加热。
高分辨研究界面运动行为。
此时得到的界面运动规律和实际块体材料中界面运动的规律有区别？

0

黄石道人

第5楼2015/10/03

这个出去污染的原因。
怎么论断没有区别呢？
显然薄样品，界面与表面会发生作用啊。
mercurycat(mercurycat) 发表: 没有区别，除非样品制备或转移样品时造成表面污染。

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