用气质SIM定量后，还需要不需要再scan一遍？

可以设置Scan和SIM模式同时采集。
一般我不走两次，只有当被检查物质离子比例明显失调，又怀疑收到其他成分干扰时，才会在走Scan确定一下

应助达人

这个跟你对所检测的目标物，和你的样品的了解程度有很大的关系。正常情况，保留时间和离子比例都对，就可判定为目标物。有条件的话，用氘代内标校正。如果出现基质离子干扰，无法确定时，才走一下scan进行确认。

个人认为，所有的都去走scan，或者是scan和sim同时扫描，都没有太大必要。

加有同位素内标，就是离子比例有时候不很对，比如 4个特征离子高度有一条明显不正常，很高，有可能是基质影响的，这时还需要再做一个全扫描吗

应助达人

一般如果离子比例显著低于设定值，可以判定为假阳性。如果是显著高于，要么是其他化合物，要么是样品基质的离子干扰。这种时候还是建议全扫一下比较保险。

应助达人

一般SIM的话，主要看离子比例是否在正常范围，保留时间是否一致，有无大的干扰等，一般不用再做SCAN。

弱弱的问一下。。这个离子比例怎么看的

在sim检测时，做一个浓标，在峰高点双击右键，看各个特征离子高度。个人看法

习惯用SIM定量，看峰型和RT基本可以判断是否目标物了。
不用scan

应助达人

RT和离子比例均正常就可以定性定量了，没有必要再走一次SCAN，除非是SIM定性有困难。但是话说回来SIM定性困难更多是因为离子比例的问题，这的话走SCAN也不一定能够有效避免干扰。