原级X射线中是否含有样品元素特征的二次射线？

原级X射线中含有靶材的特征谱线，并且强度很高，如果我们要测元素周期表中靶材元素附近的元素，需要用初级滤光片滤除靶材的特征谱线

应助达人

非常感谢，对分析靶材（铑）附近的土壤中元素（锡），通过初级滤光片滤除靶材的特征谱线后，基体效应校正（基本参数法、理论影响系数法）和实验校正法（散射线内标法、康普顿内标法）应该用那些方法？

应助达人

不会有影响的，或者说影响可以忽略。
以具体的例子来讲解可能会更好理解一点。
比如要分析样品中的Fe元素，以FeKa来做校准曲线，来自于靶材的连续谱中当然含有FeKa的能量，但是这个能量不能激发样品中Fe元素，因为Fe元素的最低激发能量FeKab为7.11keV，大于FeKa的能量6.4keV；
对分析真正有影响的地方是来自于连续谱中的FeKa散射线，但是这个影响本身就很小，而且对于做校准曲线的每个样品基本都一样，它起到了抬高校准曲线截距的作用，做实际样品，也一样有FeKa的散射线，这样大家互相抵消，其实不用考虑。
恕我直言，你问这个问题，说明你还没有理解吸收边的概念，对于校准曲线的本质是一种“比较”还缺乏深刻的理解。

应助达人

谢谢老师详细解释。
1.我之前确实对吸收限（吸收边？）确实没有理解。
2.恕学生愚笨，我还是没有理解“对分析真正有影响的地方来自于连续谱线中Fe Ka散射线”。能否再细讲一下？非常感谢

应助达人

我的理解，来自于连续谱的FeKa波长，不会激发样品中的铁原子，但是他可能会被散射，有可能一小部分会进入检测器，很显然，这部分信号会叠加在样品中Fe原子产生的信号上，对我们的测试目标FeKa构成了干扰。
但是众所周知，X射线的穿透能力很强，被散射的X射线本身就很少，能够进入检测器的就更少了。这部分信号实际上是背景噪声来源的一部分。通常的荧光谱图上，可以看到背景噪声远低于目标信号。
问题是在于这部分散射线影响怎么排除呢？事实上不用排除。因为校准曲线是一种“比较”，拿未知样品和标准样品比较。定量XRF测试中，隐含的一个前提是未知样品和标准样品成分、形状都是很相似的，所以他们对来自于原级谱中的FeKa散射能力接近——这是个很合理的假定——由于标样和未知样品都散射了同样多的FeKa进入检测器，所以不用排除，在做比较的时候自然就消除了散射线的影响。
以上是我个人的理解，供参考。