小白求助各位老师

其实，你要是初步筛选可以通过扫描电镜，分辨率10nm的颗粒没问题的。假设需要进一步分析，建议去做fib，因为双喷不好处理，离子剪也容易把纳米层打坏。不过，结构分析仍然不容易，可能不同析出相多个衍射环就把你弄懵了。

谢谢，请问您知道怎么通过透射图像分析晶粒大小？

正常看就能看出晶粒大小，Dark filed Image就可以

嗯嗯，谢谢，还有就是铝合金一般怎么选择晶带轴看呢？

这个就是你查文献了，一般低指数的就行吧。

应助达人

如果纳米层比较薄，可以采用TEM界面样制样方法，然后采用离子减薄是可行的，当然如果能切FIB也行了。至于晶带轴，如果真是纳米晶，取向可能就不一定那么规则了，什么晶带轴观察已经没有意义了，直接明场看就行了。

谢谢?

这类样品的关键是如何制样。截面样品和FIB都不错，不过也不是一般人做得好样。
我们这边有几个老师做类似研究，磨样品时采用平面控制初减薄，然后用粒子溅射，结果也还不错。

至于如何看到纳米晶，这个对透射电镜很简单，直接看明场像就行

这类样品的关键是如何制样。截面样品和FIB都不错，不过也不是一般人做得好样。
我们这边有几个老师做类似研究，磨样品时采用平面控制初减薄，然后用离子溅射减薄，结果也还不错。
至于如何看到纳米晶，这个对透射电镜很简单，直接看明场像就行
我们还用过STEM明场像，效果非常之好！