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【求助】样品表面的平整程度----在线等

mitchie

2007/01/16

扫描探针显微镜SPM/AFM

1、当时培训时老师说超过微米级的表面用AFM就没什么意义了，为什么啊？（除了针容易断之外）

2、在进行AFM测试前通常会问样品表面的平整程度如何（粗糙度），怎样用其它手段确定表面的平整度啊？比如压片的高分子材料。

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JayZHONG

第1楼2007/01/16

1. 由scanner的vertical range（一般就是几nm）决定的，
2. 典型的pyramidal tip大约只有3微米高
3. 培训老师说的超过微米级只是一个概念，比如1－100nm叫做nm级。
我想到的就是这些，不知道够不够全面？

mitchie 发表:1、当时培训时老师说超过微米级的表面用AFM就没什么意义了，为什么啊？（除了针容易断之外）
2、在进行AFM测试前通常会问样品表面的平整程度如何（粗糙度），怎样用其它手段确定表面的平整度啊？比如压片的高分子材料。

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mitchie

第2楼2007/01/16

[quote]原文由 zhjclock 发表:1. 由scanner的vertical range（一般就是几nm）决定的

但是有的scanner的vertical range也很大啊

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mitchie

第3楼2007/01/20

怎么没有人回答我啊，请求斑竹帮忙。

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qijw

第4楼2007/01/20

俺是新人，多多支持
我在06年4月拿到一个新的AFM，只有我在操作
我的z向范围大概有5微米。但是如果很粗糙的表面
对针尖肯定有较大的损害，所以不建议用
培训老师说，起伏超过微米用AFM就没有意义，很对啊
因为那样用光学和其他非常简单的手段都能获得所要结果
根本用不着AFM。另外看样品的表面粗糙度，直接用你的
光学显微镜就好了，时间长了，经验丰富了就能大概知道
其表面粗糙度是否适合用AFM。很多东西用电镜来得更方便。
个人经验，不妥的地方还需大牛指正，我也是新人啊。

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