STEM成像原理

应助达人

电子束与样品作用产生的信号类型是确定的，TEM SEM STEM都一样，但是收集的信号不一样。STEM 只是电子束在样品表面扫，TEM是平行光或会聚光。

应助达人

STEM不同探测器可以收集明场像和暗场像

我知道电子束打样品产生的那几种信号类型，但是不明白STEM模式的特点是什么，看照片反正衬度和TEM很不一样？还有STEM和TEM的区别，打个很弱智的比喻，这两种模式下，假如都用的是HAADF探头，那么收集的不都是散射角很大的电子吗，有什么区别呢？

应助达人

Stem就是接受不同角度的散射电子成像。角度不同。称呼不同。关键是电子束要细。扫描时样品不动。我也很想学stem。我们马上要买的机器就带stem了。

接受不同角度的电子成像不是由你选择的探头决定的吗？那么tem模式不是也可以选择不同的探头吗？但是这俩照片衬度特别不一样，所以不懂为什么。还有stem是逐步扫描各个区域，这是为了增加信号量吗？等你知道了告诉我啊～感觉这些仪器常规操作都不难，就是原理啥的理解的模模糊糊的。

应助达人

tem模式是平行光入射。stem模式是汇聚光入射。tem光斑大。stem光斑小。这些会导致散射电子的分布不同。成像的效果不同。我也是纸上谈兵。没实际用过。

stem的信号可以是直接透射电子 小角度散射电子 大角度散射电子 取决信号探测器的几何以及有效的相机长度

相比于Tem stem由于是扫描模式 主要用来做微区各种信号分析 包括 二次电子 特征x射线等等 主流还是特征x射线

STEM的光是锥光，不倾斜的，操作是通过平移的，具体可以参考扫描

至于STEM和TEM对样品的作用问题，可以参数在地面放一层玻璃珠，用手电筒照射，光束也细的越能获得更小区域的信息，光束越宽的获得是更大区域的信息，甚至该区域多次散射的信号提供的信息，很难分辨，比利于精细研究，如果要单子成分研究，不考虑其他因素，越细的光束效果越好