icp-oes测硫样品背景强度要高于标液，而且左测有干扰峰

应助达人

样品背景强度高，需要考虑的是样品基质干扰问题，对于测试总硫，还可以考虑182nm波长看看

应助达人

这个与样品基质和仪器状态包括进样系统有关系

应助工程师

1、吹扫；
2、S180nm附近有Ni的一条峰，看你的样品

测的三元材料，不过在其他设备上测同样的样品就没有这个干扰峰

应助工程师

“其他设备”是指同样是ICPOES只是其他品牌，还是不同仪器？

一样的设备，只有新旧不同，而且是同样的样品
今天清洗了矩管但是还是存在干扰峰，只是测试出来强度整体下降了

清洗了矩管和雾化室

大佬这个进样系统可以详细说说吗，同样的样品放在另一台设备（设备一样，只有新旧的区别）上测出来的就是正常的，所以应该不是样品基质的问题，

你这个检查光谱的界面，下面谱线数字框边上有个“入”的按钮，点进去就能看到这个谱线边上可能有的干扰谱线，对照查一下就知道了