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【求助】为什么sem对铁粉特别惧怕?请教高手

扫描电镜(SEM/EDS)

  • 我去测sem,负责的老师给我说,我的样品中有Fe成分,并且,颗粒过小。如果放到太小,会污染镜头。如果是别的成分(如Cu,Al等),则不怎么影响。为什么啊?
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    第2楼2007/04/19

    磁性样本不假, 扫描电镜用电磁透镜也不假, 但并不是所有的SEM都怕磁性样本,特别是 FESEM就有很多的厂家不怕。
    污染镜头也不是由于样本有磁性引起的,是末级透镜的浸末磁场和样本磁场相互干扰,导致电子束扫描不准,会在图像中有扭曲的现象。
    样本在极端充电的情况下有可能会飞起来,但污染的不是镜头,而是电子束通路中的真空。
    老兄的解释实在难以恭维。

    fzfscn 发表:fesem都怕磁性样品,因为样品可能会在电子的冲击下飞起,从而污染镜头。

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    第4楼2007/04/25

    利用浸末磁场的浸末式电磁透镜的设计是分析磁性样本的障隘,不采用这个设计的电磁透镜设计就没有问题。

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  • rainyweek

    第5楼2007/04/29

    RENXIN 发表:磁性样本不假, 扫描电镜用电磁透镜也不假, 但并不是所有的SEM都怕磁性样本,特别是 FESEM就有很多的厂家不怕。
    污染镜头也不是由于样本有磁性引起的,是末级透镜的浸末磁场和样本磁场相互干扰,导致电子束扫描不准,会在图像中有扭曲的现象。
    样本在极端充电的情况下有可能会飞起来,但污染的不是镜头,而是电子束通路中的真空。
    老兄的解释实在难以恭维。

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  • qqbrotton

    第8楼2007/05/21

    根据上面专家的解释,这个小磁片是吸到哪里去了?真空里面?

    我还是对磁性物质对sem的污染不理解,用sem做有磁性的物质,末级磁场和样本磁场相互干扰导致电子束扫描不准,那么说明sem不适合做有磁性的物质,怎么会对仪器本身产生影响呢?难道做了有磁性的物质,SEM的电子束就被干扰了,需要校正?

    我对sem一窍不通,如果是我的基本概念出了问题,请见谅

    eels 发表:做磁性样品还是小心点好,有一次,北大化学系的电镜就由于一块小磁片吸附到电镜里面而停机了好几周。

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    第10楼2007/06/21

    电子显微镜利用电磁透镜和静电透镜对电子束进行聚焦和扫描,这个大家都明白。
    所以两种透镜的材料都有自己的磁属性,就像光学显微镜的玻璃镜片一经磨制,就已固定。
    将磁性样本引入电磁透镜或静电透镜中所产生的后果就像物理损坏了光学镜片一样,时间短还好说,时间长可能会要更换透镜关键部件极靴。
    如果样本被吸入真空中,这是和以上所讲的完全不同的概念,样本会减低真空度,导致不同的问题。
    这里再强调一下,只有使用浸末式电磁透镜设计的SEM才怕磁性样本,非浸末式的就没问题。
    底端SEM一般都是浸末式的。

    qqbrotton 发表:根据上面专家的解释,这个小磁片是吸到哪里去了?真空里面?

    我还是对磁性物质对sem的污染不理解,用sem做有磁性的物质,末级磁场和样本磁场相互干扰导致电子束扫描不准,那么说明sem不适合做有磁性的物质,怎么会对仪器本身产生影响呢?难道做了有磁性的物质,SEM的电子束就被干扰了,需要校正?

    我对sem一窍不通,如果是我的基本概念出了问题,请见谅

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  • zhaoxj0820

    第12楼2007/07/18

    不仅是铁,钴、镍也同样不行。
    不但是对磁性样品有忌讳,易磁化样品也是一样的。
    我们(S4800型)已经有过一次这样的教训,碳钢样品被磁化后吸到镜头上,差点造成大损失啊。
    建议再能满足需求的前提下,尽量作乌灯丝电镜;采用最大工作距离、较小工作电压也是必要的。再有一定要用导电银浆将样品粘牢。此行样品做样前一定要去磁。

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  • shaohanmei

    第16楼2007/07/25

    磁性样品对FESEM一般不友好,透镜系统的磁线圈容易与磁性样品产生干扰造成图象不清晰,更糟的是磁性样品容易在透镜磁场的作用下脱离样品台进入透镜系统中而污染镜头。所以,对于FESEM来说,磁性样品尽量不要做。但如果非做不可的话,可以参考下列几条:
    1.样品一定要固定好,最好采用瞬间固定胶固定;
    2.工作距离一定不能太低,最少大于8;
    3.采用高电压,大电流测样。

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    第17楼2007/07/25

    一般的钨丝电镜和低端的FESEM的末级透镜都采用浸末式\电磁透镜的设计, 所以怕磁性样本。

    高端的FESEM是没有问题的。

    shaohanmei 发表:磁性样品对FESEM一般不友好,透镜系统的磁线圈容易与磁性样品产生干扰造成图象不清晰,更糟的是磁性样品容易在透镜磁场的作用下脱离样品台进入透镜系统中而污染镜头。所以,对于FESEM来说,磁性样品尽量不要做。但如果非做不可的话,可以参考下列几条:
    1.样品一定要固定好,最好采用瞬间固定胶固定;
    2.工作距离一定不能太低,最少大于8;
    3.采用高电压,大电流测样。

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  • bossvip

    第19楼2007/08/04

    对于有些FESEM,它的OBJECT LENS的外磁场很弱对于磁性材料作用可以忽略不记。但是有些FESEM如果采用的是单磁极电子光学透镜的话,磁场较强,如果要做实验工作距离必须很大。

    RENXIN 发表:电子显微镜利用电磁透镜和静电透镜对电子束进行聚焦和扫描,这个大家都明白。
    所以两种透镜的材料都有自己的磁属性,就像光学显微镜的玻璃镜片一经磨制,就已固定。
    将磁性样本引入电磁透镜或静电透镜中所产生的后果就像物理损坏了光学镜片一样,时间短还好说,时间长可能会要更换透镜关键部件极靴。
    如果样本被吸入真空中,这是和以上所讲的完全不同的概念,样本会减低真空度,导致不同的问题。
    这里再强调一下,只有使用浸末式电磁透镜设计的SEM才怕磁性样本,非浸末式的就没问题。
    底端SEM一般都是浸末式的。

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  • kapabulanka

    第21楼2007/10/26

    发一个物镜类型的图示。其中第三种就是浸没式物镜。

    浸末式的物镜的磁透镜与样品间的距离小,可实现高分辩率,不应该是底端产品呀?

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