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【求助】金属基复合材料中增强颗粒只有200nm左右,想测其成分,如何测啊

XPS及其它能谱仪

  • 又想避免基体的干扰
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  • zhuyongfa

    第1楼2007/04/30

    可以采用场发射俄歇电子能谱,采用选区分析,找到要分析的点,进行成分分析.目前,场发射俄歇电子能谱的空间分辨率可以达到8nm,应该是没有问题的.

    yesky 发表:又想避免基体的干扰

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  • yesky

    第2楼2007/05/04

    上海附近有这样的设备吗?
    北京有点远了

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  • csl_moon

    第3楼2007/05/05

    將基體和增強顆粒分離,你應該知道它們分別是甚麼,選取合適的分離方法就可以了

    yesky 发表:又想避免基体的干扰

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