扫描电镜(SEM/EDS)
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鱼肉好吃
第1楼2007/08/03
我说呢,那么大的标准化系数肯定是有问题了。
第2楼2007/08/03
^_^,真是好东西,正在学习中。
icewine2000
第3楼2007/08/26
你的文件讲的介绍用双电子束同时做"切和看",新的FIB都有这样的设计。它是“Introduction to Focused Ion Beams”这本书的第6章,这本书还是挺全面的。
redfish
第4楼2007/08/28
1.在国内建个失效分析中心怎么样?当然不错,但要大笔资金2.国内主要IC设计中心有没有FA部门,FIB应用情况如何?IC设计中心有FA部门(很少一两个人),但一般没有FIB,我知道的情况是请别人做,3.国内FAB厂中FIB设备主要是用在in-line还是FA,应用和需要前景如何?是否需要单独把片子拿出到外面的FA中心去做分析?FAB厂有FA部门,且很强大.一般不需要单独把片子拿出到外面的FA中心去做分析
heatwind
第5楼2007/09/10
这里半导体失效分析的讨论好少啊, 没有做这方面的吗?
sun-guo
第6楼2007/09/17
谢谢分享~~~~~~~~
dsj_guilin
第7楼2008/03/10
好东西啊,支持支持~~~
vincent2956
第8楼2008/03/16
在8寸厂用的很多,主要是FA用,封装厂不清楚。
第9楼2008/03/16
icewine2000,你有全本的资料吗,很想学习一下啊。
tedyli2007
第10楼2008/10/06
我们公司FA实验室又SEM和FIB,自己做
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