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【原创】EDS成分分析和电子束作用范围

  • semoperator
    2007/08/01
  • 私聊

扫描电镜(SEM/EDS)

  • 怎么我还没有积分!!!!
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  • anite1984

    第1楼2007/08/02

    今天收获真不小,下载好几兆了

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  • semoperator

    第2楼2007/08/05

    不知道为何没人回答这个科普问题,希望高手指点一二呀,我一直等着呢?

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  • 共工

    第3楼2007/08/06

    帮助您顶置,请大家帮忙。

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  • happydfli

    第4楼2007/08/06

    这是很难回答的问题吗?我也很想知道其中的确切解答。

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  • zemb

    第5楼2007/08/06

    这些问题应去阅读电镜原理中电子束与样品的作用部分。
    简单的说:
    电子束作用在样品上的范围与加速电压、束斑大小、样品材料及所取的信号种类等有关。如某电镜的分辨率是1.2nm,可以说其在最佳分辨率条件下作用在样品表面的束斑直径应小于1.2nm。不同信号产生的范围及深度不同,二次电子信号产生于样品表面较浅的部位,范围及深度约为几nm,X射线产生于样品表面较深的范围,产生X射线的范围及深度约零点几至几十微米。信号产生的范围及深度主要受加速电压及样品材料原子序数的影响。

    电子束与样品的作用范围会影响EDS成分的分析,EDS能够分析的最小颗粒应不小于产生X射线的范围,如一般黑色金属,其范围约在1微米左右。如果分析的颗粒超过这个范围,其分析的成分应基本上就是这个颗粒的成分。
    对于200nm的颗粒,不能用EDS准确的分析出成分,因为在电子束激发该颗粒产生X射线的同时,也激发出了相邻颗粒(或部位)产生X射线,这样分析的结果就包含了相邻部位的成分。

    把颗粒放得再大,也减小不了X射线的产生范围,所以说靠提高放大倍数来提高X射线的分辨率是不可能的。这是EDS的局限性。

    semoperator 发表:请问一般电子束作用在样品上的范围有多大,例如某电镜的分辨率是1.2nm,能否说其作用在样品的表面的面积直径约1.2nm,还是更大?其作用深度又是多少呢?都和什么因素有关?

    另一个问题是电子束的与样品的作用范围会影响EDS成分的定量分析,如果要问EDS能够分析的最小颗粒是多大,其问题实际上是否是问电子束的作用范围,如果电子束不超过这个颗粒,其分析的成分是否就是这个颗粒的成分呢?
    我有一个样品,含有很多200nm的颗粒,能否用EDS较准确的分析出成分?其主要分析的影响因素是什么呢?

    能否说把颗粒放大到很大倍数,然后在颗粒上打点,就可以分析出颗粒的成分了?

    这些问题一直困扰我,请各位集中给答复一下。

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  • semoperator

    第6楼2007/08/07

    zemb 发表:这些问题应去阅读电镜原理中电子束与样品的作用部分。
    简单的说:
    电子束作用在样品上的范围与加速电压、束斑大小、样品材料及所取的信号种类等有关。如某电镜的分辨率是1.2nm,可以说其在最佳分辨率条件下作用在样品表面的束斑直径应小于1.2nm。不同信号产生的范围及深度不同,二次电子信号产生于样品表面较浅的部位,范围及深度约为几nm,X射线产生于样品表面较深的范围,产生X射线的范围及深度约零点几至几十微米。信号产生的范围及深度主要受加速电压及样品材料原子序数的影响。

    电子束与样品的作用范围会影响EDS成分的分析,EDS能够分析的最小颗粒应不小于产生X射线的范围,如一般黑色金属,其范围约在1微米左右。如果分析的颗粒超过这个范围,其分析的成分应基本上就是这个颗粒的成分。
    对于200nm的颗粒,不能用EDS准确的分析出成分,因为在电子束激发该颗粒产生X射线的同时,也激发出了相邻颗粒(或部位)产生X射线,这样分析的结果就包含了相邻部位的成分。

    把颗粒放得再大,也减小不了X射线的产生范围,所以说靠提高放大倍数来提高X射线的分辨率是不可能的。这是EDS的局限性。

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  • forzamarco

    第7楼2007/08/07

    放大倍率的变换,是通过改变电子束在样品表面所扫描的区域来实现的,而不是说放大倍率越大,beam spot size就越小,相同条件下,只是改变倍率的话,beam spot size的差异不会很大

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  • zemb

    第8楼2007/08/08

    楼上说的是。
    你分析颗粒成分的时候用的是定点方式(点扫描),此时电子束打在一点是不动的。与扫描范围、放大倍数无关。以上所说的电子束与样品的作用范围,也只是考虑一个点,而不是在某放大倍数的扫描范围。

    X射线的产生范围主要与加速电压、原子序数等有关。一般情况下束斑直径远小于这个尺寸,可以忽略不计。
    束斑的大小实际上是表示电子束聚焦程度的好坏。加速电压越高更利于电子束的汇聚,束斑可能更小,这就是为什么提高加速电压可以提高分辨率的主要原因。

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  • seal007

    第9楼2007/08/08

    X射线的产生范围主要与加速电压、原子序数等有关。一般情况下束斑直径远小于这个尺寸,可以忽略不计。
    束斑的大小实际上是表示电子束聚焦程度的好坏。加速电压越高更利于电子束的汇聚,束斑可能更小,这就是为什么提高加速电压可以提高分辨率的主要原因。

    anite1984 发表:同问~

    听做电镜的老师说,用SEM配的EDS打成分,只适用于颗粒大于多少的样品(记不清了)
    有哪位大侠能告知吗?

    TEM 中能谱是不是有同样的限制呢?

    谢谢谢谢

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  • semoperator

    第10楼2007/08/09

    那也就是说,电子束定点后,无论我放大多少倍,打出的成分应该都是一样的?


    zemb 发表:楼上说的是。
    你分析颗粒成分的时候用的是定点方式(点扫描),此时电子束打在一点是不动的。与扫描范围、放大倍数无关。以上所说的电子束与样品的作用范围,也只是考虑一个点,而不是在某放大倍数的扫描范围。

    X射线的产生范围主要与加速电压、原子序数等有关。一般情况下束斑直径远小于这个尺寸,可以忽略不计。
    束斑的大小实际上是表示电子束聚焦程度的好坏。加速电压越高更利于电子束的汇聚,束斑可能更小,这就是为什么提高加速电压可以提高分辨率的主要原因。

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