【求助】样品喷镀金属于二次电子像关系

謝謝你的分享
我收下了

是这样的,我曾经试过!

俺在努力中，估计22世纪可以了

背散射呗，以前的帖子里讲过的；验收用碳喷金样品很能说明问题。

一般来说，在样品表面镀金主要是为了使不导电样品表面导电，以消除样品的充电效应。
样品表面镀金，增加了样品表面材料的原子序数，减小了电子束与样品的作用范围，这样可以提高分辨率，也就是更容易调出清晰的图像，并不是二次电子有多大的增加。用金做分辨率标样也是这个原因，如果用铁，肯定得不到好的分辨率。
但一般还没有在导电金属样品表面镀金的，有兴趣者不妨试试，看看效果如何。

再请问为什么二次电子检测器会探测到背散射电子呢，如果这个问题您不屑回答的话，请问是否有可能二次电子检测器只看二次电子，背散射电子检测器只看背散射电子呢。

嘿嘿，当然能了，Zeiss的二次电子探测器就可以只看二次电子啊，具体什么原理还要请大虾明示，我去找只笔记下来学习学习！高能过滤？自己瞎猜不要见笑！

首先说明一下，我是新手，正在学习阶段，说错的麻烦毫不客气的指出啊:)

二次电子的产率主要只跟样品的表面形貌有关吧，所以用二次电子像来表征形貌；SEM里的各种探头中，只有二次电子探头能够主动的吸附二次电子，其他几种探头都是被动的吧；另外背散射探头的位置比较特殊，因为背散射电子本身方向是比较特殊的，而二次电子在各个方向都会有。

猜对了一半。
能量过滤装置使 背散射探头只看背散射电子。
静电透镜设计使得二次电子探头只关心真正的二次电子， 产生纯二次电子像。
低端的二次电子探头其实是 ET探头， EVERHART 和 THOELEY 先生的发明，以讹传讹， 不知道怎么就叫成 二次电子探头了。
不得不承认这一点FEI做得很好， ET探头叫ETD，不叫SED。