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| 型号: | NX-Hybrid WLI |
| 品牌: | Park 原子力/Park SYSTEMS |
| 产地类别: | 进口 |
| 产地: | 韩国 |
| 厂商性质: | 一般经销商 |
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| 更新时间: | 2026/06/30 |
Park 原子力晶圆缺陷光学检测设备
Park 原子力NX-Hybrid WLI
进口晶圆缺陷光学检测设备
Park NX-Hybrid WLI
AFM 和 WLI 技术集成系统

用于 200mm至 300mm 晶圆的全自动工业化 AFM-WLI 系统是业内最快捷、最准确、最通用的半导体计量工具。
Park NX-Hybrid WLI 是迄今为止首个内置白光干涉仪轮廓测量的 AFM 系统,可用于半导体元件的研发计量、过程控制和制造质量保证。
Park NX-Hybrid WLI 使用 WLI 模块在相当大的区域提供高吞吐量成像,并使用 AFM 在感兴趣的区域提供亚埃高度分辨率的纳米尺度计量。
Park NX-Hybrid WLI 提供了从大面积扫描到纳米级计量的终极解决方案,适用于各种应用,包括质量保证、自动缺陷检测、前端半导体工艺控制和后端先进封装。
Park NX-Hybrid WLI 无缝集成了自动化工业 AFM 系统和 WLI 轮廓仪。与前两种单独的工具解决方案相比,它能有效地节约成本、减少设备占用空间并能提供全新的最佳计量解决方案。

Park NX-Hybrid WLI可测量亚埃级精度的台阶高度
WLI 和 AFM
半导体计量的两种最佳互补技术
WLI
白光干涉测量是一种光学技术,具有成像区域广、速度快、吞吐量高的优点。
AFM
原子力显微镜是一种扫描探针技术,对所有样品材料(包括透明材料)都能提供最精确的纳米级分辨率测量。

Park 原子力Park NX-Hybrid WLI白光干涉原子力显微镜由上海艾尧科学仪器有限公司提供,产地为韩国,属于进口晶圆缺陷光学检测设备,符合多项国家和国际分析标准, 广泛应用于医疗/健康、生物研究、电子/电气、材料、石油化工、航空航天、半导体等领域,Park 原子力Park NX-Hybrid WLI白光干涉原子力显微镜凭借其创新性与实用性,在晶圆缺陷光学检测设备用户中获得广泛关注。
根据艾尧仪器官方产品资料显示:Park 原子力Park NX-Hybrid WLI白光干涉原子力显微镜的仪器类别为光学图形化缺陷检测设备,主要应用为晶圆制程监控,晶圆尺寸为12英寸向下兼容,Park 原子力Park NX-Hybrid WLI白光干涉原子力显微镜的价格为面议,具体型号是NX-Hybrid WLI,品牌为Park 原子力。
在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 |
品牌 |
型号 |
产地类型 |
价格 |
|---|---|---|---|---|
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Onto晶圆表面缺陷检测仪
|
儒米娜 |
PrimaScan |
进口 |
面议 |
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荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测仪
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Fastmicro |
FM-PDS |
进口 |
面议 |
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Candela光学表面缺陷检测仪
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KLA |
Candela |
进口 |
面议 |
客户服务热线:400-616-7676,1611(售前/售后支持)
官方链接:https://m.instrument.com.cn/netshow/SH104306/C310309.html
来源:上海艾尧科学仪器有限公司