X射线吸收精细结构谱仪(XAFS)

台式X射线吸收/发射谱仪

X射线吸收精细结构谱（X-ray absorption fine structure，XAFS），也叫X射线吸收谱（X-ray absorption spectroscopy，XAS），是一种基于同步辐射光源、研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域，

主要有以下优点：

1.不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；

2.不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；

3.不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；

4.对样品无破坏，可进行原位测试；

5.能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01Å。

XAFS谱主要包括两部分: X射线吸收近边结构 (XANES) 和扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 。EXAFS的能量范围大概在吸收边后50 eV到1000 eV， 来源于X 射线激发出来的内层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子单次散射效应的结果。XANES包含了吸收边前约10 eV 至吸收边后约50 eV的范围，其主要来源于X 射线激发出的内壳层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子多重散射效应。

产品优势：

多功能：提供科研级高质量XAFS/XES图谱

高性能：1小时内完成1%含量样品测试（CN载体）

高光通量：＞2000,000 photons/sec@8Kev

配置灵活：可根据客户要求定制样品池，实现高温高压，低温低压，各种气氛条件下对反应过程原位观察

简单易用：只需半天培训即可上机操作

自主可控：90%部件自主可控，无政策风险

低维护成本：无需专人维护、操作、管理等