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| 型号: | Lens-Less |
| 品牌: | Lyncee Tec |
| 产地类别: | 进口 |
| 产地: | 瑞士 |
| 厂商性质: | 一般经销商 |
| 评分: |
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| 更新时间: | 2026/06/30 |
Lyncee Tec轮廓仪
Lyncee TecLens-Less
进口轮廓仪
晶圆平整度、表面粗糙度、三维形貌测量仪

产品简介
晶圆表面三维形貌测量仪可以在几分钟内测量出整个晶圆的纳米级3D形貌,主要用于测量晶圆表面三维形貌、粗糙度、平整度、几何参数、面型参数、表面缺陷等。
产品原理:
这款无透镜探测器是一款固定视场的DHM设备,其独特的专利设计坚固耐用,非常适合工业应用。它基于反射式DHM测量,该反射式配置可测量具有亚纳米级分辨率的3D表面形貌。
产品特性:
测量速度快
不受周围振动影响
数字对焦:无需机械位移
产线应用的理想选择
紧凑设计,便于集成
摄像头位于主机外部,便于维护
采用外部激光源,便于集成和维护
可根据您的需求定制
单波长或双波长配置可选
可按需提供长相干激光源
可按需提供高分辨率传感器
n主要技术参数:
视场:6mm × 6mm
水平分辨率:10 μm
垂直分辨率:0.5 nm
工作距离:10 mm
CMOS 相机:400 万像素
Lyncee Tec晶圆平整度粗糙度测量仪Lens-Less由上海艾尧科学仪器有限公司提供,产地为瑞士,属于进口轮廓仪,符合多项国家和国际分析标准, 广泛应用于半导体、能源、电子/电气、交通、钢铁、航空航天等领域,Lyncee Tec晶圆平整度粗糙度测量仪Lens-Less凭借其创新性与实用性,在轮廓仪用户中获得广泛关注。
据仪器信息网显示:该仪器已通过“仪器优选”认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异。
根据艾尧仪器官方产品资料显示:Lyncee Tec晶圆平整度粗糙度测量仪Lens-Less的产品种类为非接触式轮廓仪/粗糙度仪,工作原理为白光干涉仪,垂直分辨率(nm)为0.5nm,横向分辨率为10um,Lyncee Tec晶圆平整度粗糙度测量仪Lens-Less的价格为面议,具体型号是Lens-Less,品牌为Lyncee Tec。
在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 |
品牌 |
型号 |
产地类型 |
价格 |
|---|---|---|---|---|
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美国Nanovea三维光学轮廓仪
|
NANOVEA |
PS50 |
进口 |
面议 |
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美国Nanovea便携式三维轮廓仪
|
NANOVEA |
JR25 |
进口 |
面议 |
|
瑞士Lyncee Tec数字全息显微镜DHM
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Lyncée Tech |
DHM-R2100 |
进口 |
面议 |
客户服务热线:400-616-7676,1611(售前/售后支持)
官方链接:https://m.instrument.com.cn/netshow/SH104306/C604039.html
来源:上海艾尧科学仪器有限公司