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一、产品概述：
透射电镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束穿透样品以获取其内部结构和微观特性的信息。TEM能够提供纳米级的分辨率，广泛应用于材料科学、纳米技术、生物学和化学等领域。
二、设备用途/原理：
·设备用途
TEM主要用于研究材料的晶体结构、缺陷、相变及其他微观特性。它在金属、陶瓷、半导体及生物样品的分析中发挥着重要作用，常用于材料的成分分析、晶体取向测定以及纳米结构的形貌观察。
·工作原理
TEM的工作原理是通过加速电子束穿透极薄的样品。电子束在样品中与原子相互作用，产生衍射和散射现象。透过样品的电子被收集并形成图像。TEM通常配备多种成像模式，如明场、暗场和电子衍射，以提供样品的不同信息。由于其高分辨率，TEM能够揭示样品的细微结构和化学成分，为科学研究和材料开发提供关键数据。
三、主要技术指标：
1. 配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜
2. TEM分辨率 (nm)：0.14
3. 加速电压：10 ～ 120kV
4. 倍率 （TEM）：×10～1,500,000
5. 样品倾斜角：Tilt-X ±70°(高倾斜样品杆)
6. 多样品装填数：4
售后服务
60天
1年
安装调试现场免费培训
透射电镜TEM信息由深圳市矢量科学仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于透射电镜TEM报价、型号、参数等信息，深圳市矢量科学仪器有限公司客服电话：400-860-5168转5919，欢迎来电或留言咨询。
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