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v 应用：半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)、导电薄膜(金属、离子等)，扩散层，硅相关外延材料，离子注入样品
v 样品尺寸：基于所选择的平台而定，圆形样品最大支持300mm(12 inch)，或方形最大尺寸730x920mm
v 测量范围：
Ø V/I 电阻: 1.0m - 3.0M Ω
Ø 方阻: 5.0m - 10.0M Ω/sq
电阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm
售后服务
60天
1年
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四探针电阻率测试仪 信息由深圳市矢量科学仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于四探针电阻率测试仪 报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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