型号: | MM-STUDIO |
产地: | 美国 |
品牌: | Maury |
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领先的太赫兹有源负载牵引!
频率可以到1.1T! 通过有源VMU+软件,可以搭载keysight的VNA+extender的太赫兹网络分析仪上,实现非50欧姆环境下,大信号条件下微波全参数测试。实现频率,功率,偏置扫描测试,优化参数搜索。解决了太赫兹环境下,没有机械式阻抗调节器(Tuner),探针测试损耗过大等问题。 目前世界上的商业化太赫兹负载牵引方案,解决了太赫兹条件下,器件全微波参数测试和特性提取的难题。 四大特性: 1、 在用户指定的功率下,测试S参数; 2、 高精度和重复度下,50欧姆下功率扫描测试增益压缩; 3、 提供任意阻抗下,负载牵引测试; 4、 在任意阻抗下,测试基波功率(Pin,Pav,Pload),gain和效率 系统组成:主要测试设备 说明 PNA:
N5222B (or higher frequency)PNA微波网络分析仪 PNA-X:
N5244B (or higher frequency) PNA-X微波网络分析仪 MM-STUDIO 50Ω测量所需的 MM-STUDIO LP 非-50Ω主动负载拉力测量所需,附加 VMU-201802 or VMU-201901 非-50Ω主动负载拉力测量所需
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