材料测试方法

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  • 浅谈纳米材料的表征与测试方法
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 纳米材料被誉为“21 世纪最重要的战略性高技术材料之一”。随着应用领域的扩大和增强,近年来,纳米材料的毒性与安全性也受到广泛关注。表征与测试技术是科学鉴别纳米材料、认识其多样化结构、评价其特殊性能及优异物理化学性质、评估其毒性与安全性的根本途径,也是纳米材料产业健康持续发展不可或缺的技术手段。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1 纳米材料的表征 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 纳米材料的表征是对纳米材料的性质和特征进行的客观表达,主要包括尺寸、形貌、结构和成分等方面的表征。 /p p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " 纳米材料的表征 /span /p p style=" text-align: center " strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201912/uepic/2ffdf5f4-5465-4b3a-849e-1934933722b0.jpg" title=" 纳.png" alt=" 纳.png" / /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2 纳米材料的测试技术 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.1 光子相关光谱法(photo correlation spectroscopy,PCS) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " PCS常用于纳米粒子尺寸及尺寸分布的测试,相关标准已有GB/T 19627 等,其适用于尺寸为3nm~3μm的悬浮液,可获得准确的尺寸分布,测试速度也相当快,特别适合于工业化产品粒径的检测。但采用该方法时,必须要解决好纳米材料的分散问题,须获得高度分散的悬浮液,否则所反映的结果只是某种团聚体的尺寸分布。由于该方法是一种绝对方法,因此测量仪器可以不必校准;但在仪器首次安装、调试期间或有疑问时,必须使用有证标准纳米颗粒分散体系对仪器进行验证。如采用PCS法测定平均粒径小于100nm的、粒度分布较窄的聚苯乙烯球形颗粒分散体系,则要求测得的平均粒径与标定的平均粒径的相对误差应在2%之内。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2 X 射线衍射法(X-ray diffraction,XRD) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " X射线衍射法可用于纳米晶体材料结构分析、尺寸测试和物相鉴定。该方法测定的结果是最小不可分的粒子的平均尺寸;因此,只能得到较宏观的测量结果。此外,采用该方法进行测试时,需要用X 射线衍射仪校正标准物质对仪器进行校正。目前,该方法已建立有关的国家标准包括GB/T 23413、GB/T 15989、GB/T15991 等。XRD物相分析可用于未知物的成分鉴定,但分析的不足之处在于灵敏度较低,一般只能测定含量在1%以上的物相;且定量分析的准确度也不高,一般在1%的数量级。同时,所需要的样品量较大,一般需要几十至几百毫克,才能得到比较准确的结果。由于非晶态的纳米材料不会对X射线产生衍射,所以一般不能用此法对非晶纳米材料进行分析。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.3 X 射线小角散射法(small angle X-ray scattering,SAXS) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " SAXS可用于纳米级尺度的各种金属、无机非金属、有机聚合物粉末以及生物大分子、胶体溶液、磁性液体等颗粒尺寸分布的测定;也可对各种材料中的纳米级孔洞、偏聚区、析出相等的尺寸进行分析研究。其测试范围为1~300nm,测量结果所反映的是一次颗粒的尺寸,具有典型的统计性,且制样相对比较简单,对粒子分散的要求也不像其他方法那样严格。但该方法本身不能有效区分来自颗粒或微孔的散射,且对于密集的散射体系,会发生颗粒散射之间的干涉效应,导致测量结果有所偏低。关于该方法的标准有GB/T 13221、GB/T 15988等。为了保证测试结果的可靠性和重复性,应对仪器的性能和操作方法进行校核,一般推荐采用粒度分布已定值的纳米粉末标样或经该方法测定过粒度分布的特定样品进行试验验证,其中粒径偏差应控制在10%以内。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.4 电子显微镜法(electron microscopy) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法,一般包括扫描电子显微镜法(scanning electron microscopy,SEM)和透射电子显微镜法(transmission electronmicroscopy,TEM)。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " SEM的特点是放大倍数连续可调,从几倍到几十万倍,样品处理较简单;但一般要求分析对象是具有导电性的固体样品,对非导电样品需要进行表面蒸镀导电层。扫描电镜与能谱仪相结合,可以满足表面微区形貌、组织结构和化学元素三位一体同位分析的需要。能谱仪可对表面进行点、线、面分析,分析速度快、探测效率高、谱线重复性好,但是一般要求所测元素的质量分数大于1%。关于电镜在纳米材料应用中的标准较多,如GB/T 15989、GB/T 15991、GB/T 20307、ISO/TS 10798等。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " TEM法是集形貌观察、结构分析、缺陷分析、成分分析的综合性分析方法,已成为纳米材料研究的最重要工具之一。除了具有与SEM的相同功能外,利用电子衍射功能,TEM可对同素异构体加以区分。相较于XRD,还能对含量过低的某些相进行分析,且可以结合形貌分析,得到该相的分布情况。TEM法的主要局限是对样品制备的要求较高,制备过程比较繁琐,若处理不当,就会影响观察结果的客观性。目前,TEM在纳米材料方面的应用正逐步被开发出来,其相关标准也在不断增加,如GB/Z 21738、GB/T 24490、GB/T 24491、ISO/TS 11888、GB/T 28044等。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 由于电镜法测试所用的纳米材料极少,可能会导致测量结果缺乏整体统计性,实验重复性差,测试速度慢;且由于纳米材料的表面活性非常高,易团聚,在测试前需要进行超声分散;同时,对一些不耐强电子束轰击的纳米材料较难得到准确的结果。采用电镜法进行纳米材料的尺寸测试时,需要选用纳米尺度的标准样品对仪器进行校正。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.5 扫描探针显微镜法(scanning probe microscopy,SPM) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " SPM法是研究物质表面的原子和分子的几何结构及相关的物理、化学性质的分析技术。尤以原子力显微镜(atomic force microscopy,AFM)为代表,其不仅能直接观测纳米材料表面的形貌和结构,还可对物质表面进行可控的局部加工。与电镜法不同的是,除了真空环境外,AFM还可用于大气、溶液以及不同温度下的原位成像分析;同时,也可以给出纳米材料表面形貌的三维图和粗糙度参数。除此之外,AFM 还可用于研究纳米材料的硬度、弹性、塑性等力学及表面微区摩擦性能。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 近年来,SPM技术在纳米材料测量和表征方面的独特性越来越得到体现,如GB/Z 26083-2010、国家项目20078478-T-491等。但由于SPM纵向与横向分辨率不一致、压电陶瓷可能引起的图像畸变、针尖效应等,使得还有一些问题有待解决,如SPM探针形状测量和校正、SPM最佳化应用及不确定度评估、标准物质的制备、仪器性能的标准化、数值分析的标准化、制样指南和标准制定等。目前,虽有仪器校正的标准ASTM E 2530和VDI/VDE 2656颁布,但由于标准物质的缺少,在实际操作中缺乏实施性。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.6 X 射线光电子能谱法(X-ray photoemissionspectroscopy,XPS) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " XPS 法也称为化学分析光电子能谱(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA)法。从X 射线光电子能谱图指纹特征可进行除氢、氦外的各种元素的定性分析和半定量分析。作为一种典型的非破坏性表面测试技术,XPS主要用于纳米材料表面的化学组成、原子价态、表面微细结构状态及表面能谱分布的分析等,其信息深度约为3~5nm,绝对灵敏度很高,是一种超微量分析技术,在分析时所需的样品量很少,一般10-18g左右即可;但相对灵敏度通常只能达到千分之一左右,且对液体样品分析比较麻烦。通常,影响X射线定量分析准确性的因素相当复杂,如样品表面组分分布的不均匀性、样品表面的污染物、记录的光电子动能差别过大等。在实际分析中用得较多的是对照标准样品校正,测量元素的相对含量;而关于该仪器的校准,GB/T 22571-2008中已有明确规定。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.7 俄歇电子能谱法(aguer electron spectroscopy,AES) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " AES法已发展成为表面元素定性、半定量分析、元素深度分布分析和微区分析的重要手段,可以定性分析样品表面除氢、氦以外的所有元素,这对于未知样品的定性鉴定非常有效。除此之外,AES还具有很强的化学价态分析能力。AES的分析范围为表层0.5~2.0nm,绝对灵敏度可达到10-3个单原子层,特别适合于纳米材料的表面和界面分析。但需要注意的是,对于体相检测,灵敏度仅为0.1%,其表面采样深度为1.0~3.0 nm。AES技术一般不能给出所分析元素的绝对含量,仅能提供元素的相对含量;而且,采用该方法进行测试时,需要相应的元素标样,元素鉴定方法在JB/T 6976-1993中已明确给出。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.8 其他方法 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 除此之外,还有一些其他的测试技术和方法用于纳米材料的表征,如紫外/可见/近红外吸收光谱方法用于金纳米棒的表征(GB/T 24369.1)、紫外-可见吸收光谱方法用于硒化镉量子点纳米晶体表征(GB/T24370)、纳米技术-用紫外-可见光-近红外(UV-Vis-NIR)吸收光谱法表征单壁碳纳米管(ISO/TS 10868)。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 3 结束语 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em margin-bottom: 15px " 纵观当前纳米材料的表征与测试技术,要适应纳米材料产业的快速发展,规范化表征和准确可靠测试纳米材料尚存在一定挑战。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 基于此,仪器信息网将于 span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 2019年12月18日 /span 组织举办 strong 第二届“纳米表征与检测技术”主题网络研讨会 /strong ( a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/nano2/" target=" _blank" textvalue=" 免费报名中" i span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 免费报名中 /span /i i span style=" color: rgb(255, 0, 0) " /span /i /a ),邀请该领域专家,围绕纳米材料常用表征和检测技术,从成分、形貌、粒度、结构以及界面表面等方面带来精彩报告,为纳米材料工作者及相关专业技术人员提供线上互动交流互动平台,进一步加强学术交流,共同提高纳米材料研究及应用水平。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/nano2/" target=" _blank" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201912/uepic/14b28169-cfe6-44ba-8dc5-f47132b97366.jpg" title=" 540_200.jpg" alt=" 540_200.jpg" / /a /p p style=" text-align: justify " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/nano2/" target=" _blank" textvalue=" 报名链接:第二届“纳米表征与检测技术”主题网络研讨会" strong span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 报名链接 /span /strong : i strong span style=" color: rgb(112, 48, 160) " 第二届“纳米表征与检测技术”主题网络研讨会 /span /strong /i /a /p p style=" text-align: center " strong 扫一扫,参与报名 /strong /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201912/uepic/d2e686ea-3308-4d6f-8795-e26e3d0f062d.jpg" title=" 报名.PNG" alt=" 报名.PNG" / /p p style=" text-align: center " strong 扫一扫,进入纳米表征与检测技术群 /strong /p p style=" text-align: center " strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201912/uepic/33e39f0a-8ef0-4aeb-b662-03350301ed05.jpg" title=" 群.PNG" alt=" 群.PNG" / /strong /p p style=" text-align: justify " strong i style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(127, 127, 127) font-family: 宋体, " arial=" " white-space:=" " 文章摘自: /i /strong /p p style=" text-align: justify " strong i style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(127, 127, 127) font-family: 宋体, " arial=" " white-space:=" " span style=" font-family: " microsoft=" " font-size:=" " background-color:=" " 谭和平, 侯晓妮, 孙登峰, et al. 纳米材料的表征与测试方法[J]. 中国测试, 2013(01):17-21. /span /i /strong /p
  • 材料在紫外线照射下的耐候性能测试方法
    材料在紫外线照射下的耐候性能测试方法:紫外线耐候试验机用于测试材料在紫外线照射下的耐候性能。本产品采用最佳类比阳光中UV段光谱的荧光紫外灯,并结合控温、供湿等装置来类比对材料造成变色、亮度、强度下降、开裂、剥落、粉化、氧化等损害的阳光(UV段)高温、高湿、凝露、黑暗淋雨周期等因素,同时通过紫外光与湿气之间的协同作用使得材料单一耐光能力或单一耐湿能力减弱或失效,从而广泛用于对材料耐气候性能的评价,设备具有提供最好的阳光UV模拟,使用维护成本低廉,易于使用,设备采用控制自动运行,试验周期自动化程度高,灯光稳定性好,试验结果重现率高等特点。 1. 准备样品:根据需要,准备测试材料的样品。通常样品应具有一定的面积和规格,并且要保证样品的表面平整。2. 设置参数:根据测试要求,设置紫外线耐候试验机的参数。包括紫外线辐照强度、温度、湿度等参数。根据材料的使用环境,合理设置参数以模拟真实环境。3. 安装样品:将准备好的样品安装到试验机的样品架上。确保样品的安装位置平整,且不与其他样品或试验室设备发生干扰。4. 开始测试:按下开始按钮,启动紫外线耐候试验机。紫外线灯管会开始照射样品,同时控制系统会对温度和湿度进行调节。5. 观察记录:在测试过程中,定期观察样品的变化。可以使用放大镜或显微镜观察样品表面的细微变化。同时,记录下测试时间、温度、湿度等相关信息。6. 结束测试:根据测试要求,当达到设定的测试时间或样品发生明显变化时,停止测试。关闭紫外线耐候试验机并拆下样品。7. 分析结果:根据测试结果,分析样品在紫外线照射下的耐候性能。可以进行表面变色、龟裂、变形、质量损失等方面的评估。以上就是紫外线耐候试验机的使用方法。使用过程中,请遵循相关的安全操作规程,并注意保护眼睛和皮肤避免紫外线辐射。
  • 岛津助力关键材料国产替代化——材料研发中的测试方法
    新材料是全球科技竞争的关键领域,也是国家竞争力的重要体现。然而,我国材料强国之路任重而道远。研发生产关键新材料实现国产替代对我国产业链和供应链安全具有重要意义。国家“十四五”规划明确提出深入实施制造强国战略,并对高端新材料的发展做出明确部署:推动高端稀土功能材料、高性能陶瓷等先进金属和无机非金属材料取得突破,加快高性能树脂和集成电路用光刻胶等电子高纯材料关键技术突破。岛津拥有出色的表面分析及质谱分析技术,助力企业对关键材料的研发工作。电子探针(EPMA)用于烧结钕磁铁晶界改性及扩散分析 钕铁硼(NdFeB) 是一种重要的稀土磁性材料,在各类发动机、电子器件等领域得到广泛应用。在烧结钕铁硼材料中添加稀土元素铽(Tb)是提升其性能的有效方法。通常只有使稀土元素Tb主要分布于主相晶界位置,才能达到提升磁性材料的整体性能。这样的晶界改性可通过晶界扩散的方式实现。而通过岛津场发射电子探针EPMA-8050G,就可以观察到烧结磁性材料的晶界改性和扩散现象。场发射电子探针EPMA-8050G①晶界改性铷铁硼的表征晶界改性的铷铁硼磁体主要元素分布特征上图所示为含 Tb 的烧结铷铁硼磁铁的元素面分析结果,从中可以看出有助于提高材料性能的 Tb 缠绕分布于主相晶界处。②晶界扩散Tb元素的表征Tb 晶界扩散处理后从表面至心部的元素分布特征上图所示Tb通过主相晶界,从磁体表面扩散到了约 150μm的区域。在背散射电子图像上的线分析显示(各元素均为 8wt%范围),可以看到Tb和Nd、Pr发生置换,并且Tb浓度沿着中心区域方向略微降低。将Tb晶界扩散处理后的铁硼磁体的表面区域、距表面 1/2 处的中间区域以及心部放大后进行面分析,结果显示在主相晶粒附近,形成了薄而均匀且连续的富Tb壳层。Tb晶界扩散处理后表面、距表面1/2处和心部的分布特征电子探针(EPMA)用于氮化硅陶瓷的缺陷分析 氮化硅(Si3N4)陶瓷是一种耐高温高强度的无机材料,目前在航天航空、汽车发动机等领域有着广泛的应用。氮化硅同时具有良好的电绝缘性和散热性,未来也有可能会成为IC基板的重要材料。目前氮化硅陶瓷材料的致命弱点是对损伤和缺陷敏感。因此缺陷分析至关重要,利用岛津EPMA对氮化硅陶瓷样品进行微区分析,而不同微区位置的元素差异,对揭示缺陷成因具有指导意义。样品缺陷点的元素面分析结果如上图所示 V、Cr、Mn、Fe、Mo等金属元素在白亮条状区域有明显富集,而黑色区域主要富集轻元素C。对缺陷的典型区域进行微区成分定性和半定量分析,结果如下:定性分析结果表明,相较于正常的位置1,位置2除了富集更多的C元素外,还检出了微量的S、Cl、K等元素,推测可能是来自于样品热镶嵌时残留的树脂等有机物,或样品磨抛等制样环节引入的残留物;而位置3的主元素为Fe、Cr,此外含有微量的Mn、Co、Ni、Mo等元素,可能是混料环节未混匀的烧结助剂在烧结环节未完全熔化,或者生产流程中机械设备部件表面部分剥落而混入,具体原因建议结合工艺流程及其它分析手段综合分析。MALDI-TOF用于光刻胶成分解析 光刻胶是芯片制造中光刻工艺非常重要的耗材,是半导体产业的关键材料。光刻胶由树脂、光酸、溶剂和添加剂按一定比例混合而成。其中,光刻胶树脂是高分子聚合物,不仅是光刻胶的骨架,也是核心成分。树脂的单体种类和比例等结构设计、树脂的分子量、分散度等会影响光刻胶的核心性能。基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪(MALDI-TOF) 无需复杂样品前处理,适用于光刻胶中树脂的分子量的快速检测,为半导体材料的测试提供方法参考。MALDI-8030在m/z 1-3600范围内,检测到一系列不同聚合度的质谱峰,相邻质谱峰平均相差约120 Da,与酚醛树脂单体-(C8H8O)n-分子量相符,聚合物质谱分布模式与酚醛树脂理论结构式相符。本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。

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  • 热界面材料热性能测试方法调研

    热界面材料热性能测试方法调研

    随着IT行业的发展,特别是这些年手机行业的飞速发展,出现了一些新型热界面材料,对热界面材料热性能的测试和可靠性考核提出了更高的要求。由于热界面材料的类型较多,热界面材料的热性能测试和考核方法确实比较杂乱,最近也一直有朋友和客户咨询这方面的问题。为了梳理清楚热界面材料热性能测试和可靠性考核方法,更便于提供有效的测试评价手段,我们在热界面材料热性能测试和可靠性考核方面做了一些工作,这里我们将逐步介绍这些研究工作的内容以供大家参考和讨论。1. 前言 热界面材料TIM(Thermal Interface Materials)作为一类用于两种材料间的填充物,是热传递的重要桥梁。这类材料是一种具有较高的导热系数,容易形变,能有效降低界面间热阻的材料。 目前市场常用的热界面材料主要包括以下几种类型: (1)导热脂:导热脂是目前应用最广泛的一种导热介质,它是一种脂状物并具有一定的黏稠度,没有明显的颗粒感。 (2)导热胶:导热胶的特点是具有一定的黏合力,可以制成各种脂状和片状形式并具有一定的柔韧性,可以很好的贴合功率器件与散热器件或填充器件之间的间隙并不易发生边缘流溢,从而达到最好的导热及散热目的。 (3)相变导热材料:相变导热材料一般为低熔点金属复合材料薄片,在一定温度区间内会发生固液相变,并在装卡压力作用下流进并填充发热体和散热器之间的不规则间隙内,挤走空气,形成良好的导热界面。 (4)石墨(石墨烯)垫片:石墨(石墨烯)垫片采用特殊的制作工艺,具有极佳的导热导电和耐温性能,特别适合于不需要绝缘的高温散热场合。 衡量热界面材料的重要技术指标是导热性能,而导热性能的两个主要参数是导热系数和热阻。对于一定厚度的热界面材料,导热系数与热阻是一种互为倒数乘以厚度的关系。从理论上来说,知道热界面材料的实际厚度后,只要测量出导热系数和热阻这两个参数中的任意一个,就可以计算出另一个参数。但由于热界面材料的种类繁多,再加上热界面材料使用过程中实际厚度较小和具有加载压力的因素,使得导热系数和热阻的这个简单关系中相关量变得复杂和难以准确测量,由此使得热界面材料导热系数和热阻的测试评价方法十分混乱。 针对目前热界面材料热性能多种测试方法并存的现状,本文对目前市场上国外厂家的热界面材料产品进行了统计和分析,并对热界面材料热性能的主要测试方法和可靠性试验方法进行了汇总,展现了国外热界面材料厂商如何选择相应的测试方法,以期对今后热界面材料导热性能测试评价技术的研究提供参考和借鉴。 本文重点选取了美国莱尔德公司的热界面材料进行统计和分析,这主要是因为莱尔德公司相对于其他热界面材料厂商在官网上提供了最为详细的技术资料。2. 导热脂类热界面材料 导热脂类热界面材料是目前应用最为广泛的一种热界面材料,莱尔德公司导热脂产品的相关技术资料是众多厂家中最为全面的,尽管有些资料不是非常完整,但也是所能看到的唯一一家所提供的技术报告非常详细的公司,这为我们进行统计和分析提供了便利。2.1. 莱尔德公司导热脂类热界面材料的热性能指标 从莱尔德公司的官网上可以看到有五种牌号的导热脂热界面材料,根据官网所提供的各个牌号的公开技术资料,可以得到这五种牌号导热脂的导热系数和热阻数据以及相应的测试方法,如表 2.1所示。表 2.1 莱尔德公司导热脂热界面材料导热性能指标和测试方法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015051119574021_01_3384_3.jpg2.2. 测试方法分析 通过以上各种牌号导热脂的技术指标和各种老化考核试验结果,可以获得以下信息: (1)莱尔德公司对其所有导热脂产品的导热系数测试都采用的瞬态平面热源法(HOTDISK法)。HOTDISK方法对于这类脂状的热界面材料确实是非常简便和准确的方法,只需在恒定温度环境下将导热脂完全包裹住HOTDISK探头就可以进行测量,通过这种方法可以非常准确评价不同导热脂导热性能以指导工艺和生产,而且这种方法是一种绝对法,不需要其他方法进行校准。 (2)莱尔德公司对导热脂热阻的测量还是采用经典的ASTM D5470方法,这主要是为了测量导热脂在不同加载压力下的热阻,毕竟在不同压力下导热脂的热阻值不同。 (3)在使用HOTDISK测试方法之前,莱尔德公司是采用ASTM D5470方法测量导热系数,即在线测量出不同加载压力时导热脂的厚度值,然后再除以表 2‑1中对应的所测量得到的热阻值,就可以得到不同加载压力下的导热系数。由此可见,对于导热脂这种脂类材料,莱尔德公司现在已经摒弃了ASTM D5470这种导热脂导热系数测试方法,没有给出原因,也没有看到两种导热系数测试方法的对比测试分析。但据我们的经验和分析,这主要是因为ASTM D5470这种方法是一种相对法,测量误差要比HOTDISK方法的测试误差大很多,造成误差大的原因是在压力加载情况下导热脂的厚度很难精确测量。 (4)莱尔德公司所有的热阻测量都没有提到测试温度,有可能按照ASTM D5470中的规定温度进行热阻测量。3. 导热胶类热界面材料3.1. 莱尔德公司导热胶类热界面材料的热性能指标 导热胶类热界面材料也是目前应用非常广泛的一种热界面材料,而且导热胶的形式很多以满足不同需要,莱尔德公司将这类热界面材料归类为热填隙料(Thermal Gap Fillers)。从莱尔德公司官网上可以得到近18个系列牌号导热胶的导热系数和热阻数据以及相应的测试方法标注,如表 3.1所示。表 3.1 莱尔德公司导热胶(填充料)类热界面材料导热性能指标和相应测试方法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015051120034447_01_3384_3.jpg3.2. 测试方法分析 莱尔德公司的导热胶(热填隙料)类材料有脂状和片状两种形式,按照上述导热脂导热系数的测试技术逻辑,所有脂状导热胶的导热系数都应该采用HOTDISK方法进行测量。但从表 3‑1中可以看出,莱尔德公司在导热胶导热系数测试方法的选择上似乎非常混乱,采用HOTDISK方法既测量脂状导热胶也测量片状导热胶。同样,采用D5470A方法也是如此,看不出一个明显的测试方法选择原则。 例如,对于TputtyTM 504这种典型脂状热填隙料,导热系数测试采用的是D5470A方法,而对于相同脂状热填隙料TputtyTM 403则采用的是HOTDISK方法。 例如对于Tflex™ HR200这类片状热填隙料,导热系数测量采用的是HOTDISK方法,而对于具有类似硬度的片状热填隙料Tflex™ HR400则采用的是D5470A方法。 根据HOTDISK测试方法和测试能力,HOTDISK对脂状和片状热填隙料的导热系数都可以进行测量。根据实际测试经验,我们从具体测试的便利性方面分析,认为莱尔德公司在测试方法的选择上可能有一个前提条件,这个前提条件就是粘度和清洗的便利性。在HOTDISK导热系数测试中,HOTDISK薄膜探头要与被测热填隙料接触,如果热填隙料太粘或不易清理则容易损坏HOTDISK薄膜探头。但对于D5470A方法则不存在这种现象,在D5470A方法测试中与被测热填隙料接触的是金属块。4. 相变类热界面材料4.1. 莱尔德公司相变材料热性能指标 从莱尔德公司官网上可以得到近7个系列牌号相变材料的导热系数、热阻数据以及相应的测试方法标注,如表 4.1所示。表 4.1 莱尔德公司导热胶(填充料)类热界面材料导热性能指标和相应测试方法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015051120095158_01_0_3.jpg[align=cente

  • 相变储能材料热物性的三种主流测试方法

    相变储能材料热物性的三种主流测试方法

    [color=#993399]摘要:本文介绍了国内外相变储能材料热物性的三种主流测试方法,对比分析了差示扫描量热法(DSC)、参比温度曲线法(T-History)和动态热流计法(DHFM)三种主流相变材料热物性测试方法的特点,简述了各方法在相变材料热分析测试时的注意事项,为相变储能材料研究、生产和使用中选择合适的热物性测试方法提供了参考。[/color][color=#993399]关键词:相变材料,储能,差示扫描量热法,参比温度法,动态热流计法[/color][hr/] [b][color=#993399]1. 引言[/color][/b]相变储能材料是利用相变过程中吸收或释放的热量来进行潜热储能的物质,其研究和开发经历了漫长的过程。与显热储能材料相比,相变材料具有储能密度大、效率高以及近似恒定温度下吸热与放热等优点,因而可以应用于很多领域,如太阳能利用、废热回收、智能空调建筑物、调温调湿、工程保温材料、医疗保健、纺织行业(保温衣服)、日常生活、航天与卫星等精密仪器的恒温等方面。相变储能材料的热物性是衡量其工作性能的标准,也是其应用系统设计及性能评估的依据。相变储能材料的热物性包括相变温度、相变潜热、热导率、比热、循环热稳定性、膨胀系数、储热系数等,而相变温度、潜热及热导率是衡量相变储能材料性能最关键的几个参数,因此对相变储能材料的热物性测试一般都围绕这几个参数进行。相变储能材料热物性测试方法众多,但常用的主要有三种方法,本文将介绍这三种测试方法及其应用。[b][color=#993399]2. 差示扫描量热法(DSC Method)[/color][/b]差示扫描量热法是在程序控制温度下测量输入到物质(试样)和参比物的功率差与温度的关系的一种技术,主要应用于测量物质加热或冷却过程中的各种特征参数:玻璃化转变温度、熔融温度、结晶温度、比热容及热焓等。根据测量方法的不同又分为两种类型:功率补偿型和热流型,两种类型的测试仪器结构如图2-1所示。[align=center] [img=差示扫描量热法测试结构示意图,690,536]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708252152_02_3384_3.png[/img][/align][align=center][color=#cc33cc][b]图2-1 差示扫描量热法测量原理图[/b][/color][/align]功率补偿型DSC:通过功率补偿使试样和参比物始终保持相同的温度,测量为满足此条件样品和参比物两端所需的能量差。热流型DSC:在给定样品和参比物相同的功率下,测量样品和参比物两端的温差,根据热流方程将温差换算成热量差作为信号输出。差示扫描量热仪是比较成熟的设备,其使用温度范围广,分辨能力和灵敏度高,数据采集和处理集中,能够通过电脑直接得到DSC曲线。差示扫描量热仪测试过程中的主要影响因素有:(1)实验条件:包括升温速率的大小对试样内部温度分布均匀性的影响,检测室气体成分和压力对试样蓄放热的影响,天平的测量精度对试样选取量的影响等。(2)试样特性:样品量必须与突然释放大量能量的潜力相一致,故应尽可能使用小数量的材料,通常为1~50mg,样品在几何形状、粒度大小和纯度等方面应具有代表性。(3)参考物质:参考物质在试验温度范围内不能发生任何热转变。典型的参考物质包括煅烧氧化铝、玻璃珠、硅油或空容器。(4)其他因素:如仪器的校正等。差示扫描量热仪测试过程中的注意事项有:(1)试样的选取:由于DSC测试需要的样品量很少,在几毫克到几十毫克,因此,试样的选取关乎实际应用中大块材料的热物性,应尽量选取粒度和纯度具有代表性的试样。为减小天平测质量时产生的相对误差,应尽量多的取样。(2)温度变化速率的控制:升温速率不宜过高,过高的升温速率会导致试样内部温度分布不均匀,易产生过热现象。[b][color=#993399]3. 参比温度法(T-History Method)[/color][/b]参比温度法是一种能够测定多组相变材料凝固点、比热、潜热、热导率和热扩散系数的方法,其基本原理是将相变材料样品和参考物质分别放在相同规格的试管内,并同时置于某一设定温度的恒温容器内进行加热,直至所有材料的温度都达到这一设定温度。然后将它们突然暴露在某一较低设定温度环境中进行冷却,则得到样品和参考材料的温降曲线,通过两者的降温曲线建立热力学方程得到材料的热物性。在各种热物性测试方法中,普遍现象的是测试装置越简单所对应的测试数学模型就越复杂,需要考虑的边界条件和假设就越多。参比温度法中所进行的假定为:(1)相变过程近似为准稳态过程。(2)在固液相分界面上液相相变材料通过对流传给固相相变材料的热量忽略不计。(3)近似为一维径向传热试管的径长比要远小于1。参比温度法测试仪器结构如图3-1所示。[align=center] [img=02.参比温度法测试仪器结构示意图,690,300]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708252153_01_3384_3.png[/img][/align][align=center][b][color=#cc33cc]图3-1 参比温度法测试仪器结构示意图[/color][/b][/align]参比温度法是一种近十几年来发展起来的热分析技术,测试仪器要远比差示扫描量热仪简单,操作更简便,无需差示扫描量热仪那样的复杂培训和操作。一般采用用普通玻璃或石英试管装样品,使用方便且相变过程易被观察到,并能同时进行多样品的同时测量,样品个数取决于恒温容器的大小和数据采集系统的通道数。参比温度法测试过程中的主要影响因素有:(1)参比温度法中样品的用量为5~50g,为使样品在恒温容器内升温时受热均匀,需将样品粉碎,这破坏材料本身的结构,不能准确反映材料自身的热物性,因此会产生一定误差。(2)加热试管时,由于试管内材料分布不均等原因会导致试样内部温度不均匀,对实验结果的准确性会有影响。升温和降温过程的快慢影响试样的蓄放热,对实验结果产生一定的影响。参比温度法测试过程中的注意事项有:(1)测试条件:要求比奥数<0.1时,适用集总热容法建立热力学方程,故在测试之前应该对测试条件是否满足要求进行估算。(2)温度的选择:为了获得良好的降温曲线,加热温度要高于相变温度,冷却温度要低于相变温度。[b][color=#993399]4. 动态热流计法(DHFM Method)[/color][/b]动态热流计法是一种采用热流计测试装置来对试样热流进行动态测量的瞬态测试方法,首先测量装置中的两块加热板处于一个相同的、低于或高于样品相变温度的稳定温度,然后控制两块加热板步进升温或降温到一系列相同温度点并恒定,并实时测定每个步进温度变化过程中热流密度变化,根据热流密度变化测得每个温度点下的的热焓。动态热流计法是最近几年发展起来的新方法,此方法特别适合用于测量各种固态相变复合材料和制品、结合相变材料的混合材料以及相变材料颗粒在整个相变过程中的热物性测试评价。动态热流计法测试仪器结构如图4-1所示。[align=center] [img=03.动态热流计法测试仪器结构示意图,690,229]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708252154_01_3384_3.png[/img][/align][align=center][b][color=#cc33cc]图4-1 动态热流计法测试仪器结构示意图[/color][/b][/align]动态热流计法同样是种多参数热物性瞬态测试方法,通过热流的瞬态变化过程可以测量相变材料的显热和潜热,由一块相变材料样品可以测量固相和液相比热、相变温度和相变焓,由此可以确定相变材料的蓄热能力。另外通过试验过程的控制,可以在稳态条件下测量相变材料相变区间前后的热导率动态热流计法测试过程中的主要影响因素有:(1)伴随着过冷现象,测试结果会是不太寻常的热涵-温度曲线。固液和固固相变的初始温度常取决于加热和冷却速率、相变材料纯度以及相变材料是不是非晶态。(2)相变材料及其复合材料大多表面粗糙,这会给测量带来很大的接触热阻,可以采用弹性薄片来减小接触热阻,这些弹性薄片热焓会带入测量,需进行校准修正以保证测量精度。(3)对于热导率较高的相变材料样品,样品边缘热损会给测量带来一定影响,要设法保证测量区域内尽可能为一维热流。动态热流计法测试过程中的注意事项有:(1)测试温度区间的设定:相变材料一般并未有精确的熔化温度或凝固温度点,因此必须大至的相变温度区间来对测试温度范围以及温度变化步长进行设定,既要保证测量精度,又要兼顾测试效率。(2)测试条件:在测试过程中要求测量装置在一系列温度点达到稳态,即在稳态条件下样品的整体温度均匀且相同,没有热流进出样品,在测试中要确保稳态条件形成后才能进入下一个温度点的测试过程。(3)热流计的选择:要选择合适的热流计使得整个测试过程中的热流都必须可测,热流传感器既要保证测量精度,又有具有较大的测量范围,避免出现热流值超出热流计量程的现象。(4)校准:动态热流计法测试中要保证热流计经过校准和测量精度,而且需要采用规定的校准程序来确定相应的修正因子。[b][color=#993399]5. 测量方法比较[/color][/b]通过对以上三种测量方法的原理分析、测试仪器的比较以及其各自的特点和适用范围选择,总结三种测试方法在相变材料热物性测量中的优缺点对比如表5-1所示。[align=center][b][color=#cc33cc]表 5 1 三种相变材料测试方法优缺点比较[/color][/b][/align][align=center][b][color=#993399][img=热分析三种主流测试方法对比,690,447]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708252154_02_3384_3.png[/img][/color][/b][/align][b][color=#993399]6. 结论[/color][/b]通过对相变材料热物性当前三种主流测试方法的分析,探讨了各个测试方法的适用性和优缺点。针对相变储能材料热物性考核评价,对如何选择合理的测试方法所需关注的内容进行了总结。(1)三种测试方法各有优点和不足。DSC方法技术成熟度高,测量精度高,测量结果准确,但所用试样量偏少,导致样品热物性无法完全反映实际应用的大块材料的热物性。参比温度法的实验装置和操作过程都比较简单,试验过程易于观察,样品用量也较大,但样品结构不完整,受热可能不均匀。动态热流计法技术成熟度高,可直接对大块相变材料热物性进行测量,但测试周期较长。因此在实际应用中可以结合三种方法的使用,对比试验结果,以得到合理的测试结论。(2)对于粒度均匀,结构和组成单一,少量试样能够代表总体样品性质的材料宜选用测量精度高的DSC方法测量。对于松散材料,DSC测试取样无法具有代表性时,可以选用参比温度法测量其热物性。对于有完整性和代表性要求以及需要了解热导率性能的相变材料,可以选用动态热流计法。(3)这三种测试方法经过了不断的工程应用和实践,已经成为目前国际上的主流测试方法,通过这三种测试方法完全覆盖了从微量级样品到大尺寸产品级的相变储能材料热物性测试评价。这三种测试方法分别是相变储能材料不同生产阶段内的标准性测试方法,在具体应用中可根据实际情况进行合理的选择。[b][color=#993399]7. 参考文献[/color][/b] (1) ASTM E793 - 06(2012) Standard Test Method for Enthalpies of Fusion and Crystallization by Differential Scanning Calorimetry (2)Yinping, Zhang, and Jiang Yi. "A simple method, the-history method, of determining the heat of fusion, specific heat and thermal conductivity of phase-change materials." Measurement Science and Technology 10.3 (1999): 201. (3)ASTM C1784-14 Standard Test Method for Using a Heat Flow Meter Apparatus for Measuring Thermal Storage Properties of Phase Change Materials and Products

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    商标申请号:7183337 宏展仪器生产的Q8紫外线加速老化试验机您的首选品牌! 宏展仪器生产的Q8紫外线加速老化试验机结束进口设备长期对国内市场的垄断! Q8/UV紫外光加速老化试验机主要用于模拟对阳光、潮湿和温度对材料的破坏作用;材料老化包括褪色、失光、强度降低、开裂、剥落、粉化和氧化等。紫外光老化试验箱通过模拟阳光、冷凝、模仿自然潮湿,试样在模拟的环境中试验几天或几周的时间,可再现户外可能几个月或几年发生的损坏。 Q8/UV紫外光加速老化试验机中,紫外灯的荧光紫外等可以再现阳光的影响,冷凝和水喷淋系统可以再现雨水和露水的影响。整个的测试循环中,温度都是可控的。典型的测试循环通常是高温下的紫外光照射和相对湿度在100%的黑暗潮湿冷凝周期;典型应用在油漆涂料、汽车工业、塑胶制品、木制品、胶水等。 模拟阳光 阳光中的紫外线是造成大多数材料耐久性能破坏的主要因素。我们使用紫外灯来模拟阳光中的短波紫外部分,它产生很少的可见光或红外光谱能量。我们可以根据不同的测试要求选择不同波长的UV紫外灯,因为每种灯在总的紫外线辐照能量和波长都不一样。通常,UV灯管可分为UVA和UVB两种。 Q8/UV灯管 UVA-340灯管:UVA-340 灯管可极好地模拟太阳光中的短波紫外光,即从365 纳米到太阳光截止点 295 纳米的波长范围。 UVB-313灯管:UVB-313 灯管发出的短波紫外光比通常照射在地球表面的太阳紫外线强烈,从而可以最大程度的加速材料老化。然而,该灯管可能会对某些材料造成不符合实际的破坏。UVB-313 灯管主要用于质量控制和研究开发,或对耐候性极强的材料运行测试。 UVA-351灯管:模拟透过窗玻璃的阳光紫外光,它对于测试室内材料的老化最为有效。 潮湿冷凝环境 在很多户外环境中,材料每天的潮湿时间可长达12小时。研究表明造成这种户外潮湿的主要因素是露水,而不是雨水。Q8/UV通过独特的冷凝功能来模拟户外的潮湿侵蚀。在试验过程中的冷凝循环中,测试室底部蓄水池中的水被加热以产生热蒸气,并充满整个测试室,热蒸汽使测试室内的相对湿度维持在100%,并保持一个相对高温。试样被固定在测试室的侧壁,从而试样的测试面曝露在测试室内的环境空气中。试样向外的一面暴露在自然环境中具有冷却效果,导致试样内外表面具备温差,这一温差的出现导致试样在整个冷凝循环过程中,其测试面始终有冷凝生成的液态水。 由于户外曝晒接触潮湿的时间每天可以长达十几小时,因此典型的冷凝循环一般持续几个小时。Q8/UV提供两种潮湿模拟方法。应用最多的是冷凝方法,它是模拟户外潮湿侵蚀的最好方法。所有的Q8/UV型号都可运行冷凝循环。因为有些应用条件也要求使用水喷淋以达到实际的效果,所以有些Q8/UV型号既可运行冷凝循环又可运行水喷淋循环。 温度控制 在每个循环中,温度都可控制在一个设定值。同时黑板温度计可以监控温度。温度的提高可以加速老化的进程,同时,温度的控制对于测试的可再现性也是很重要的。 水喷淋系统 对于某些应用而言,水喷淋能更好地模拟最终使用的环境条件。水喷淋在模拟由于温度剧变和由于雨水冲刷所造成的热冲击或机械侵蚀是非常有效的。在某些实际应用条件下,例如阳光下,聚集的热量由于突降的阵雨而迅速消散时,材料的温度就会发生急剧变化,产生热冲击,这种热冲击对于许多材料而言是一种考验。Q8/UV的水喷淋可以模拟热冲击和/或应力腐蚀。 喷淋系统有12个喷嘴,在测试室的每一边各有6个;喷淋系统可运行几分钟然后关闭。这短时间的喷水可快速冷却样品,营造热冲击的条件。 照射强度控制:可选 选配照射强度控制选件可得到精确型和重复性好的测试结果;光强控制系统允许用户根据不同的测试要求设置不同的光照强度。通过其反馈回路装置精确控制照射强度;同时也可以延长荧光灯的使用寿命 温湿度控制器: 符合标准: ASTM G 153, ASTM G 154, ASTM D 4329, ASTM D 4799, ASTM D 4587, SAEJ 2020, ISO 4892 技术参数: 型号 Model Q8/UV3 Q8/UV2 Q8/UV1 UV 照射 Exposure ● ● ● 冷凝 Condensation ● ● ● 光照控制 Irradiancs Control ● ● 可调光线 Adjustable irradiance ● ● 喷水 Water Spray ● 热冲击 Thermal Shock ● 自动侦路 Self-diagnostics ● ● ● 灯泡数量 Lamp Q'ty 紫外线灯管 8 支,备品 4 支 Ultravloiet lamp 6pcs, spares 4 pcs (美国Q-LAB,Q-Panel,美国ATLAS,UVA340,UVB313,UVC351) 记录器 Recorder 选配 (Optional) 辐射计 Q8-CR Calibration Radiometer 选配 (Optional) 机器辐射强度: 1.0W/m2/340nm以内可调 1.1W/m2/313nm以内可调 UV 温度 Temp 50 ℃ -75 ℃ 冷凝温度 Condensation Temp 40 ℃ -60 ℃ 测试容量 Test Capacity 48pcs 片/se spray( 75 x 150m m ) 50pcs片/basic ( 75 x 150m m ) 水凉及耗量 Water 蒸馏水每分钟 蒸馏水每日 8 公升 体积 Dimension(W x D x H) 137 x 53 x 136cm 重量 Weight 136kg 电源 Power 1 &psi , 120V/60Hz,16A or 230V/50Hz, 9A,1800W(max)
  • 紫外线材料老化测试试验机 7183349 Q8
    商标申请号:7183337 宏展仪器生产的Q8紫外线加速老化试验机您的首选品牌! 宏展仪器生产的Q8紫外线加速老化试验机结束进口设备长期对国内市场的垄断! Q8/UV紫外光加速老化试验机主要用于模拟对阳光、潮湿和温度对材料的破坏作用;材料老化包括褪色、失光、强度降低、开裂、剥落、粉化和氧化等。紫外光老化试验箱通过模拟阳光、冷凝、模仿自然潮湿,试样在模拟的环境中试验几天或几周的时间,可再现户外可能几个月或几年发生的损坏。 Q8/UV紫外光加速老化试验机中,紫外灯的荧光紫外等可以再现阳光的影响,冷凝和水喷淋系统可以再现雨水和露水的影响。整个的测试循环中,温度都是可控的。典型的测试循环通常是高温下的紫外光照射和相对湿度在100%的黑暗潮湿冷凝周期;典型应用在油漆涂料、汽车工业、塑胶制品、木制品、胶水等。 模拟阳光 阳光中的紫外线是造成大多数材料耐久性能破坏的主要因素。我们使用紫外灯来模拟阳光中的短波紫外部分,它产生很少的可见光或红外光谱能量。我们可以根据不同的测试要求选择不同波长的UV紫外灯,因为每种灯在总的紫外线辐照能量和波长都不一样。通常,UV灯管可分为UVA和UVB两种。 Q8/UV灯管 UVA-340灯管:UVA-340 灯管可极好地模拟太阳光中的短波紫外光,即从365 纳米到太阳光截止点 295 纳米的波长范围。 UVB-313灯管:UVB-313 灯管发出的短波紫外光比通常照射在地球表面的太阳紫外线强烈,从而可以最大程度的加速材料老化。然而,该灯管可能会对某些材料造成不符合实际的破坏。UVB-313 灯管主要用于质量控制和研究开发,或对耐候性极强的材料运行测试。 UVA-351灯管:模拟透过窗玻璃的阳光紫外光,它对于测试室内材料的老化最为有效。 潮湿冷凝环境 在很多户外环境中,材料每天的潮湿时间可长达12小时。研究表明造成这种户外潮湿的主要因素是露水,而不是雨水。Q8/UV通过独特的冷凝功能来模拟户外的潮湿侵蚀。在试验过程中的冷凝循环中,测试室底部蓄水池中的水被加热以产生热蒸气,并充满整个测试室,热蒸汽使测试室内的相对湿度维持在100%,并保持一个相对高温。试样被固定在测试室的侧壁,从而试样的测试面曝露在测试室内的环境空气中。试样向外的一面暴露在自然环境中具有冷却效果,导致试样内外表面具备温差,这一温差的出现导致试样在整个冷凝循环过程中,其测试面始终有冷凝生成的液态水。 由于户外曝晒接触潮湿的时间每天可以长达十几小时,因此典型的冷凝循环一般持续几个小时。Q8/UV提供两种潮湿模拟方法。应用最多的是冷凝方法,它是模拟户外潮湿侵蚀的最好方法。所有的Q8/UV型号都可运行冷凝循环。因为有些应用条件也要求使用水喷淋以达到实际的效果,所以有些Q8/UV型号既可运行冷凝循环又可运行水喷淋循环。 温度控制 在每个循环中,温度都可控制在一个设定值。同时黑板温度计可以监控温度。温度的提高可以加速老化的进程,同时,温度的控制对于测试的可再现性也是很重要的。 水喷淋系统 对于某些应用而言,水喷淋能更好地模拟最终使用的环境条件。水喷淋在模拟由于温度剧变和由于雨水冲刷所造成的热冲击或机械侵蚀是非常有效的。在某些实际应用条件下,例如阳光下,聚集的热量由于突降的阵雨而迅速消散时,材料的温度就会发生急剧变化,产生热冲击,这种热冲击对于许多材料而言是一种考验。Q8/UV的水喷淋可以模拟热冲击和/或应力腐蚀。 喷淋系统有12个喷嘴,在测试室的每一边各有6个;喷淋系统可运行几分钟然后关闭。这短时间的喷水可快速冷却样品,营造热冲击的条件。 照射强度控制:可选 选配照射强度控制选件可得到精确型和重复性好的测试结果;光强控制系统允许用户根据不同的测试要求设置不同的光照强度。通过其反馈回路装置精确控制照射强度;同时也可以延长荧光灯的使用寿命 温湿度控制器: 符合标准: ASTM G 153, ASTM G 154, ASTM D 4329, ASTM D 4799, ASTM D 4587, SAEJ 2020, ISO 4892 技术参数: 型号 Model Q8/UV3 Q8/UV2 Q8/UV1 UV 照射 Exposure ● ● ● 冷凝 Condensation ● ● ● 光照控制 Irradiancs Control ● ● 可调光线 Adjustable irradiance ● ● 喷水 Water Spray ● 热冲击 Thermal Shock ● 自动侦路 Self-diagnostics ● ● ● 灯泡数量 Lamp Q'ty 紫外线灯管 8 支,备品 4 支 Ultravloiet lamp 6pcs, spares 4 pcs (美国Q-LAB,Q-Panel,美国ATLAS,UVA340,UVB313,UVC351) 记录器 Recorder 选配 (Optional) 辐射计 Q8-CR Calibration Radiometer 选配 (Optional) 机器辐射强度: 1.0W/m2/340nm以内可调 1.1W/m2/313nm以内可调 UV 温度 Temp 50 ℃ -75 ℃ 冷凝温度 Condensation Temp 40 ℃ -60 ℃ 测试容量 Test Capacity 48pcs 片/se spray( 75 x 150m m ) 50pcs片/basic ( 75 x 150m m ) 水凉及耗量 Water 蒸馏水每分钟 蒸馏水每日 8 公升 体积 Dimension(W x D x H) 137 x 53 x 136cm 重量 Weight 136kg 电源 Power 1 &psi , 120V/60Hz,16A or 230V/50Hz, 9A,1800W(max)
  • 进口铜测试盒使用方法
    进口铜测试盒使用方法 日本共立理化学研究所是日本最大的水质试剂盒生产厂家,封装试剂是最简单的水质检测工具。将试剂封装在聚乙烯管中,用简单的操作即可测定比分析用试验纸更低的浓度(与本公司产品相比),共有59种水质项目供客户选择:工程管理,排水管理,环境调查,自来水,水管,饮用水检查等. 使用方法: ① 拔出管子头部的线。 ② 使孔朝上,用手牢牢捏住管子下半部,排出上部空气。 ③ 保持图2的捏住管子的状态,将洞插入专用杯,松开手指,吸入被测水(检测的水是管的一半) ④ 轻轻震摇5-6次,在指定的时间吸入的被测水的变色与标准色卡进行比较,查找相同或相似颜色,该处所示的数值即为所测水质的浓度值。(mg/l=ppm) WAK系列铜测试盒检测项目及技术参数 -cu 铜 0.5 1 2 3 5 10以上 1分钟 50次/盒 -cum 铜(排水) 0.5 1 3 5 10 2分钟 50次/盒产品展示图: 中国代理商:深圳市方源仪器有限公司
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