【求助】滤光片的使用

这个翻资料找到了一些，
分析Pb，用Cu滤光片

帕纳科滤光片：
100um的铜滤光片，改善背景以及20～30电子伏特范围内的检出限。
200um的铝滤光片，改善背景以及6～10电子伏特范围内的检出限。
300um的铜滤光片，减少Rh光管K系线的发射。
750um的铝滤光片，改善背景以及检测10～20电子伏特范围内的检出限。
1mm的铅挡光板，保护光管不让灰尘进入，在待机方式（标准设备安装）时防止检测器疲劳。

滤光片作用还有降低强度的作用，如在用压片法分析烧结矿中铁时如果可以用200um的铝滤光片来降低铁的计数率，避免铁的计数率溢出

楼主是要生产仪器吗？
滤光片每家用的方法几乎都不一样，还有使用高分子滤光片的。不知楼主想了解哪方面的？

就是过滤光，比如水泥要测好铝，硅的含量较高会对他有影响，所以加铝的滤光片，这样硅就被吸收了，铝就会更准确些。

给我整的晕咯，能否说清楚些呢？谢谢！
“加铝的滤光片，这样硅就被吸收了，铝就会更准确些。”测铝加铝滤光片吗？

滤光片的材质对材质的下一个元素基本能完全吸收的，比方说铝的滤光片吸收硅，想测好铝，可以考虑加Mg的滤光片一样。

专业的讲使用滤光片的目的是消除或降低X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰，可改善峰背比，提高分析的灵敏度。
能量色散X射线荧光分析仪有两种类型的滤光片：初级滤光片和次级滤光片。
初级滤光片是将滤光片置于光管和样品间，其目的是为得到单色性更好的辐射和降低待分析元素谱感兴趣区内的由原级谱散射引起的背景。
次级滤光片是将滤光片置于样品和探测器之间，主要是对试样中产生的多元素X射线荧光谱线进行能量选择，提高待测元素的测量精度。

请问测地质样品时候 Si Al效果不好有什么办法Si尤其不好,没有使用滤光片