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【原创】【答题15】在ICP-MS质谱分析中常见的干扰是那些,如何降低或消除干扰?

  • lilongfei14
    2009/01/04
  • 私聊

ICP-MS

  • ICP-MS质谱分析中常见的干扰是那些,如何降低或消除干扰?
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  • QQ

    第1楼2009/01/04

    又有问题回答哦
    不过请教版主一下
    所谓的原子质谱具体指的是什么
    ICP-MS
    恕我愚昧,对此概念不熟悉

    lilongfei14 发表:ICP-MS质谱分析中常见的干扰是那些,如何降低或消除干扰?

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  • 北边雁

    第2楼2009/01/04

    1.氧化物和双电荷离子干扰
    2.多原子干扰
    3.同量异位素干扰
    4.记忆效应干扰
    5.基体效应
    以上可采取基体匹配法、选择其他不受干扰的同位素、碰撞池技术、冷等离子体技术、选择合适的仪器参数、内标法、标准加入法、同位素稀释法、样品溶液稀释或进行测定前基体或杂质的分离等来解决或减低干扰

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  • daystart

    第3楼2009/01/04

    ICP-MS的干扰主要分为质谱干扰和非质谱干扰,楼主所提出的质谱干扰主要有四种类型:1、同量异位素的重叠;2、多原子分子离子的重叠;3、多电荷离子(常为双电荷离子)的重叠;4、背景对被测离子流的贡献。而非质谱干扰主要分为基体效应和物理效应两种。

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  • daystart

    第4楼2009/01/04

    而克服干扰的方法一般分为数学方法、物理方法和化学方法三类,在实际应用中,克服干扰的方法与干扰的性质之间有很强的针对性。

    daystart 发表:ICP-MS的干扰主要分为质谱干扰和非质谱干扰,楼主所提出的质谱干扰主要有四种类型:1、同量异位素的重叠;2、多原子分子离子的重叠;3、多电荷离子(常为双电荷离子)的重叠;4、背景对被测离子流的贡献。而非质谱干扰主要分为基体效应和物理效应两种。

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  • QQ

    第5楼2009/01/05

    来自于样品基体,Ar气,辅助气,溶剂,试剂,玻璃仪器等样品处理过程

    非谱干扰
    样品基体的干扰不可避免。
    合适的样品处理方式
    匹配仪器参数(RF功率、离子透镜电压)
    采用内标法校正由于仪器漂移所造成的测量信号波动,基体的干扰。

    质谱干扰
    多原子分子:40ArAr+/80Se+ 、40ArO+/56Fe+、35ClO+/51V+、
    35ClOH+/52Cr+、 40Ar35Cl+/75As+
    同量异位素:40Ar+/(40Ca+ &40K+ )、64Ni+/64Zn+
    双电荷:88Sr2+/44Ca+、54Fe2+/27Al+
    对于测定元素的同位素选择,“丰度大、干扰少”为原则。
    调谐仪器使双电荷和氧化物干扰降至最低。
    使用特定的干扰校正方程。
    CRC(collision-reaction cell)

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