环扫? 低真空?

记得前面有人说过，两个是一样的，只是电镜品牌不同，叫法不一样。
环扫是FEI的专利，低真空是LEO的特色吧？其他厂家也有，不知道是不是都叫LV？

记得前面有人说过，两个是一样的，只是电镜品牌不同，叫法不一样。
环扫是FEI的专利，低真空是LEO的特色吧？其他厂家也有，不知道是不是都叫LV。
这位专家说得对。环扫是FEI的一种功能，它除了在低真空下，还要加水蒸汽。低真空LV方式是不加水蒸气的，具有LV功能的SEM现在各个著名厂家都有。效果不是很理想。

专家谈不上，我只是转述罢了。加水蒸气不就是为了让导电性增加么？低真空不能有痕量水蒸气吗？LV不理想何在呢？

没错， 但其实 精确点讲叫可变压力。
不同型号电镜可以下到不同深度的压力， 压力越深对探测器的要求就越高。

加水蒸汽是 适应样本的需要， 我想。

专家谈不上，我只是转述罢了。加水蒸气不就是为了让导电性增加么？低真空不能有痕量水蒸气吗？LV不理想何在呢？[/quote]

加水蒸气导电性增加，只是其中一个原因，还有就如renxin大侠所说了，对于某些富含水的样品，在电子束的轰击下，水分易散失，样品也就不能保持原貌了。至于说压力可变，几乎现在的各家都能做到，不过是有高有低罢了。环境扫描我看过林大一个学生的文章，局限比较大，对操作者要求比较高。如果哪一天真正做到环境状态下时，哇！不敢想象。

呵呵，是啊，如果真能在线完全环境复制扫描就太牛了。
谢谢你的讲解，这下懂了

您太客气了，嗬嗬，我也是道听途说啊！

留心处处皆学问啊:)