【讨论】icp-ms 怎样测硅磷硼

咱们做地质样品的，这三个元素一般不测。标线都没得。
看看这篇文献能不能有点提示作用。
[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp]ICP-MS法测定硅片表面BPSG中B、P含量.pdf[/url]

P用DRC模式结果可以，标准模式高含量的也差不太多，B做的很好，只要保证样品的制备过程正确，Si没研究过!

还有没有再新点的资料？？

如果用高分辨率ICPMS，都比较容易的

我发现版上很多质谱实验员分不清 ICP-MS与ICP-OES 的用途，高射炮打蚊子的事屡见不鲜。

测试高浓度Si，那是ICP-OES的任务
低浓度Si，如何解决 14N14N 干扰？

B是一个易挥发元素。通常在制样过程中添加几滴甘露醇，让甘露醇与B形成络合离子，有效抑制挥发。
如果不采取这一步骤，后期测试纯属扯淡。
其次，石英炬管中B 会贡献本底
最后，如果想精确测定B元素浓度，最好采取同位素稀释法，ID-TIMS是首选，ID-ICP-MS也凑合。

上百PPB的Si用ICPMS应该还是可以测的，如果幸运，有可能几十PPB。
P元素刚试过，做几十个PPB的 没有问题。

B元素不受干扰主要是样品处理，如何防止元素损失。做曲线还是比较容易的。

B易挥发 P背景高 还没有权威部门的标准测试方法 目前来说是个课题

我最近用ICP-MS测样品中的硼，发现体系影响较大，只能做到几个ppb，有哪位老师正在做这方面的工作，可以交流下。我的邮箱:songzf1981@163.com.

正是需要的