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【求助】x荧光压片的制样标准

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 在下初次接触x荧光,在制作标准曲线时,元素含量高的标样测得荧光强度比含量低的标样高,初步认为是制样的问题。希望各位前辈能指导下关于压片法制样方面的操作标准。
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  • ljzllj

    第1楼2010/09/24

    含量高的高到什么程度,含量高和低分别 是多少浓度?

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  • wsdy1988

    第2楼2010/09/25

    说错了 是含量高的测得强度比含量低的低

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  • ljzllj

    第3楼2010/09/25

    还是这个问题,含量是多少

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  • wsdy1988

    第4楼2010/09/25

    我现在主要测6种元素,
    Si 3.94% —10.75% P 23.6% —35.02%
    Fe 2.17% —2.98% Al 2.29% —8.38%
    Mg 0.59% —2.18% Ca 31.59% —42.22%
    其中Mg偏差较大,好几个样都存在这种情况,其他的元素只有一个(我做了5个样)

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  • wl692009

    第5楼2010/09/25

    问你几个问题,才能回答你:
    1\你的压片制备过程(从粉磨开始到压片成形)?
    2\什么样的荧光仪?

    3\你所说的是含量与强度负相关,什么元素,含量在什么范围,而你所分析的有代表性的样品的有问题元素含量约是多少?

    4\你使用的是什么标样?标样是如何定值的?

    说得详细些,我可能帮你找出原因来!!!

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