【求助】请教用原子力测量样品厚度的问题

“生成剖面线”的方法测量样品厚度,可行.
都是很锯齿状的线,口否传一张图片看看

能看到图否？

我的图扫的不太好：）

你这个图片没扫的好，可以放慢速度重扫下。
你要侧他的厚度，你要处理下，选个区把它拉平，然后在“生成剖面线”
试试看...

嗯，冲扫试试看。

楼上说的“选个区把它拉平”是什么意思啊？

另外，我觉得AFM制样好难啊~

有什么好的经验吗？

谢谢~

“选个区把它拉平”
就是"flatten"一下
不知道你说的指哪方面的样品，
基底Si片我扫的也是很锯齿状的线，在一个纳米高度左右，我觉得是硅片本身的粗糙度，

我的图形处理软件中好像没有找到“flatten”一项，
我的样品是石墨。

你把原始图片发给我，看我的软件可以帮你处理不

附件中是原始文件。

有劳有劳！

我们的软件打不开，没办法