硅铁中硅的测定-荧光压片法

粉末压片的检测结果和化学法的结果相差1%左右，哪位高手一直在用压片法，请分享下经验啊。

请问是XRF法测定硅铁中硅吗

是的，我用的是粉末压片法，但是检测结果不理想。

荧光曲线建立的还可以，但是做了20个未知样品，有4个结果差的比较多，其他相差0.7%以内。

有一个样品超过了2%，找不出原因。

硅铁合金由于其晶体结构很多，矿物效应非常明显，除非你是铁合金生产厂才能用粉末压片法，如果你是铁合金用户，由于各个厂的硅铁合金结构差异大，所以误差就大。当时我做过这方面的实验，压片误差就是大。如果你想用荧光分析，你只能用高频感应重熔法来制样了。

压片法是半定量，你说的差百分之1以内很正常。你用的什么牌子的，我的是帕纳克有DMB和IQ两种半定量，和化学法有的样子差的很大，有的重合的很好，看具体样子。还有就是看谱线的峰都画上没。还得看要不要归一化处理。压片报硅本身就不是很准

我用的MXF2400,感觉结果差别很大啊，求教啊。

由于帕纳科仪器是斜照射，还存在阴影效应，压片法影响较大。