TXRF 全反射X荧光 检测器SSD 故障 请教

Bruker -德国布鲁克全反射XRF 黄工-联系电话：18221083873
全反射X射线荧光（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术
TXRF：它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、准确度高（可用内标法）、简便、快速，而且可进行无损分析，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。
国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会；该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X射线荧光光谱仪范围内，能谱仪（EXRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差