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ICP光谱分析的干扰

  • LiveBandit
    2006/05/25
  • 私聊

ICP光谱

  • ICP光谱分析的干扰
    ICP光源从本质说是由一个高温光源(包括RF发生器及炬管等)和一个高效雾化器系统所组成。从ICP问世到如今的大量实践证明,这种光源所进行的分析其所以具有较高精度和准确度,和光源中的干扰较小是分不开的。但是这并不是说它不存在干扰的问题。现就ICP光谱分析中出现的干扰问题分述如下。
    1) 物理因素的干扰
    由于ICP光谱分析的试样为溶液状态,因此溶液的粘度、比重及表面张力等均对雾化过程、雾滴粒径、气溶胶的传输以及溶剂的蒸发等都有影响,而粘度又与溶液的组成,酸的浓度和种类及温度等因素相关。
    溶液中含有机溶剂时,粘试与表面张力均会降低,雾化效率将有所提高,同时有机试剂大部分可燃,从而提高了尾焰的温度,结果使谱线强度有所提高,当溶液中含有有机溶剂时ICP的功率需适当提高,以抑制有机试剂中碳化物的分子光谱的强度。
    除有机溶剂外,酸的浓度和种类对溶液的物理性质也有明显的影响,在相同的酸度时,粘度以下列的次序递增HCl≤HNO3由上述所见,物理因素的干扰是存在而且应设法避免,其中最主要的办法是使标准试液与待测试样无论在基体元素的组成、总盐度、有机溶剂和酸的浓度等方面都保持完全一致。目前进样系统中采用蠕动泵进样对减轻上述物理干扰可起一定的作用,另外采用内标校正法也可适当地补偿物理干扰的影响。基体匹配或标准加入法能有效消除物理干扰,但工作量较大。
    2) 光谱干扰
    光谱干扰是ICP光谱分析中最令人头痛的问题,由于ICP的激发能力很强,几乎每一种存在于ICP中或引入ICP中的物质都会发射出相当丰富的谱线,从而产生大量的光谱“干扰”。光谱干扰主要分为两类,一类是谱线重叠干扰,它是由于光谱仪色散率和分辨率的不足,使某些共存元素的谱线重叠在分析上的干扰。另一类是背景干扰,这类干扰与基体成分及ICP光源本身所发射的强烈的杂散光的影响有关。对于谱线重叠干扰,采用高分辨率的分光系统,决不是意味着可以完全消除这类光谱干扰,只能认为当光谱干扰产生时,它们可以减轻至最小强度。因此,最常用的方法是选择另外一条干扰少的谱线作为分析线,或应用干扰因子校正法(IEC)以予校正。对于背景干扰,最有效的办法是利用现代仪器所具备的背景校正技术给予扣除。
    3) 化学干扰
    ICP光谱分析中的化学干扰,比起火焰原子吸收光谱或火焰原子发射光谱分析要轻微得多,因此化学干扰在ICP发射光谱分析中可以忽略不计。
    4) 电离干扰与基体效应干扰
    由于ICP中试样是在通道里进行蒸发、离解、电离和激发的,试样成分的变化对于高频趋肤效应的电学参数的影响很小,因而易电离元素的加入对离子线和原子线强度的影响比其他光源都要小,但实验表明这种易电离干扰效应仍对光谱分析有一定的影响。对于垂直观察ICP光源,适当地选择等离子体的参数,可使电离干扰抑制到最小的程度。但对于水平观察ICP光源,这种易电离干扰相对要严重一些,目前采用的双向观察技术,能比较有效地解决这种易电离干扰。此外,保持待测的样品溶液与分析标准溶液具有大致相同的组成也是十分必要。例如在岩矿分析中,常用碱溶法或偏硼酸里分解样品,给溶液带来大量的碱金属盐类。任何时候,两者在物理、化学各方面性质的匹配是避免包括电离干扰在内的各种干扰,使之不出现系统误差的重要保证。
    基体效应来源等离子体,对于任何分析线来说,这种效应与谱线激发电位有关,但由于ICP具有良好的检出能力,分析溶液可以适当稀释,使总盐量保持在1mg/ml左右,在此稀溶液中基体干扰往往是无足轻重的。当基体物质的浓度达到几mg/ml时,则不能对基体效应完全置之不顾。相对而言,水平观察ICP光源的基体效应要稍严重些。采用基体匹配、分离技术或标准加入法可消除或抑制基体效应。
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  • fjlzr

    第1楼2006/05/25

    恩看了有点帮助。。。我现在遇到了点问题哪位高手可以帮帮我,谢谢了1```

    我现在要测定二氧化锆可是又没有消解仪器,二氧化锆又不溶酸。我有测定里面的钠又不可以用碱溶。
    我从网上找到了可以用硫酸和硫酸铵溶解。之前有试验过可以溶解。
    可是现在再做有些样品又溶不完全,而且楼主也说了最后少用硫酸,我想不到还有什么方法可以溶解?哪位高手有这方面的资料可否指点指点!!~~~~

    现在更郁闷的是要测定二氧化锆里的铀和钍。谁知道哪里有铀和钍的标准溶液买????

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  • wbjlz

    第2楼2006/05/25

    ftp://download:download@down2.instrument.com.cn/FilesCenter/200651219214723195.caj

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  • SOMS课题组

    第3楼2006/05/25

    二氧化锆只能部分溶解硫酸的,要溶解二氧化锆要用氢氟酸缓溶!测定钠还是AAS体系比ICP体系要好多了,至于铀和钍是放射性物质,你要购买要到公安局申请就可以购买了,一般当地都有买的!!标准物质发行中心,北京的,就有买!!你作铀和钍好像ICP不太好作的,有锆作为基体,那就麻烦了!!

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  • 小伊~

    第4楼2006/05/26

    北京标准物质中心问过了没有哦!!~~~
    头痛!!~~~~
    请问溶解锆粉详细步骤是怎么样的??
    请指教谢谢!~~~~

    SOMS-JAMESKIN 发表:二氧化锆只能部分溶解硫酸的,要溶解二氧化锆要用氢氟酸缓溶!测定钠还是AAS体系比ICP体系要好多了,至于铀和钍是放射性物质,你要购买要到公安局申请就可以购买了,一般当地都有买的!!标准物质发行中心,北京的,就有买!!你作铀和钍好像ICP不太好作的,有锆作为基体,那就麻烦了!!

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  • 西北狼

    第5楼2006/05/26

    师弟,问你个问题,你用热点的ICP有没有谱图解析的功能,假设我们要测定1000PPM或更高铜集体里的1PPM的铅,如果不采取适当的措施的话可能什么也测定不到,如果你遇到这个问题该怎么解决,不能分离集体,

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  • LiveBandit

    第6楼2006/05/26

    师兄现在是瓦里安的"ICP专家"了出的问题就是高深

    我的设想:
    Pb在处于Cu基体中且含量已经极低了,又因其元素自身特点(灵敏较低)我首先会选择220353 做为分析线的,Cu的谱线如3247线(灵敏)、2000线(次)、221458线(次;这条是最接近Pb220353线)。Cu221458-Pb220353=1.105nm,而teva软件中通常每个元素subarray plots宽度为15,从最左端到最右端的谱线差值为0.07~0.09nm之间,当Pb220353和Cu221458无论进行哪个元素的分析都不太可能使这两个元素的谱峰同时出现在同一张subarray图中,所以采用(干扰校正因子)IEC校正的方法不太现实。
    接下来的解决方式我会采用标准加入法解决:
    1.没有进行基体分离,而且使每份溶液之间的基体进乎相同;
    2.阶度加入的铅标准溶液后又有利于Pb信号强度的增加;这又让我联想到分光光度计中采用的差示分光光度法-加入定量的Pb后在去扣除以得到原溶液的含量值

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  • LiveBandit

    第7楼2006/05/26

    师兄是不是有这方面的经验啊?讲出来供长长见识了。

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  • 西北狼

    第8楼2006/05/26

    标准加入法好象不怎么样,低含量PB产生的信号很低的,几乎全被埋没了。

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  • 西北狼

    第9楼2006/05/26

    我只想验证一个问题,就是铜集体对PB测定的干扰,是220。353的线。

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  • whale

    第10楼2006/05/26

    铜基体对Pb的220.353这条线的干扰非常大,标准加入法也不能解决这个问题。我是一直用分离基体的办法做的!

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