TEM 能拍出纳米粒表面电荷的差异吗

我没有经验，只是听过一些报告的体会。Vertex beam 能做，可是设备要求很高，那个选择vertex的栅格都得特制的，不是一般的电镜都常规性配置的东西。我觉得holography应该能做出来。能做holography的机器应该要多的多了。

测静电势，曾经听过ASU 的Fernando A. Ponce 介绍用holography准确测量 N-族 半导体自发极化电场的报告，一台CM200 带biprism 电镜而已，工作之细致令人惊叹。

参考文献：
F. A. Ponce, Annalen der Physik, 1 January 2011, Vol. 523 (1-2), pp 75-86