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EDXRF定性测试纸张中重金属的问题

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 不知道论坛中有没有用XRF测试过纸张?

    我问过帕纳科的工程师,说需要叠个二三十层再测试

    纸张是轻基体,如果X射线穿透纸打到后盖,纸张中的元素会被激发吗?

    还是直接穿透,只会激发仪器后盖中的元素?
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  • sonne86400

    第1楼2013/09/11

    貌似目前了解只有美国加州对重金属纸张有限制 儿童制品中也会存在 但是那么低的检出限 用xrf估计难度会存在的哦 加厚测试也有可能被击穿 不行多叠几层

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  • lollipop

    第2楼2013/09/11

    那所谓被击穿,样品中元素会随后盖一块被激发吗?还是只会激发后盖板的元素?

    sonne86400(sonne86400) 发表:貌似目前了解只有美国加州对重金属纸张有限制 儿童制品中也会存在 但是那么低的检出限 用xrf估计难度会存在的哦 加厚测试也有可能被击穿 不行多叠几层

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  • loaferfdu

    第3楼2013/09/11

    应助达人

    不管后面有没有后盖,纸张中的重元素都会被激发。
    问题是,如果纸张很薄,那么这意味着其中的重元素量很少,则其信号就很弱,这个弱信号叠加在后盖(如果有)的强信号上,你猜猜分析起来很容易吗?
    所以帕纳克的工程师意见是对的,不仅要叠厚,还要压实,中间不要有空气。

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  • loaferfdu

    第4楼2013/09/11

    应助达人

    你用的帕纳克的WDXRF还是EDXRF?分析目标元素是什么重金属?后盖本身的材质是什么?

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  • lollipop

    第5楼2013/09/11

    用的是EDXRF。没有特定的目标,就是想定性扫描一下里面有什么元素,后盖应该是铅板吧。。

    你说的很对,纸张上面还需压个重物,防止有空隙。

    搞不懂叠加的样品中间有空气,对测定有什么干扰啊?

    loaferfdu(loaferfdu) 发表:你用的帕纳克的WDXRF还是EDXRF?分析目标元素是什么重金属?后盖本身的材质是什么?

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  • loaferfdu

    第6楼2013/09/11

    应助达人

    Minipal?
    后盖不是铅板吧,估计就是个不锈钢,我也不知道,你可以向帕纳克的工程师咨询确认。
    由于楔形效应的存在,其实你不需要叠到多厚,有个3-5mm厚度就可以了。
    不建议通过压重物的方式,建议把纸张裁开,然后用订书机四边订起来,就压实了。
    有空气会吸收荧光信号,特别对低能段的信号影响较大。比如Ca,纸张中大多数都会有的,能量才3.7keV左右,过于疏松的样品对Ca荧光信号会有影响,像S、P之类的影响就更大了。
    当然你关注重金属,纸张中Pb这类的重金属含量通常不会高于500ppm,建议向帕纳克的工程师咨询,加滤光片测试,否则你很可能除了Ca什么也测试不到。

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  • lollipop

    第7楼2013/09/11

    我用的是Epsilon系列,测量低能量元素,我都是用氦气环境的。

    loaferfdu(loaferfdu) 发表:Minipal?
    后盖不是铅板吧,估计就是个不锈钢,我也不知道,你可以向帕纳克的工程师咨询确认。
    由于楔形效应的存在,其实你不需要叠到多厚,有个3-5mm厚度就可以了。
    不建议通过压重物的方式,建议把纸张裁开,然后用订书机四边订起来,就压实了。
    有空气会吸收荧光信号,特别对低能段的信号影响较大。比如Ca,纸张中大多数都会有的,能量才3.7keV左右,过于疏松的样品对Ca荧光信号会有影响,像S、P之类的影响就更大了。
    当然你关注重金属,纸张中Pb这类的重金属含量通常不会高于500ppm,建议向帕纳克的工程师咨询,加滤光片测试,否则你很可能除了Ca什么也测试不到。

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  • loaferfdu

    第8楼2013/09/11

    应助达人

    Epsilon,你们真有钱啊

    这个是偏振的二次靶,不用什么滤光片,把纸张叠厚了放进去测试就可以了。

    不过关于前面提到的楔形效应,你可能需要向帕纳克的工程师咨询一下,这里X射线对样品是斜入射的还是正入射(90°),如果是斜入射,那么考虑到楔形效应,纸张叠厚到3-5mm即可,如果是正入射,可能你的纸张需要再加厚。因为X光对普通纸张的穿透力很强。

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  • lollipop

    第9楼2013/09/11

    谢谢你。X光是下照式,斜入射。

    loaferfdu(loaferfdu) 发表:Epsilon,你们真有钱啊

    这个是偏振的二次靶,不用什么滤光片,把纸张叠厚了放进去测试就可以了。

    不过关于前面提到的楔形效应,你可能需要向帕纳克的工程师咨询一下,这里X射线对样品是斜入射的还是正入射(90°),如果是斜入射,那么考虑到楔形效应,纸张叠厚到3-5mm即可,如果是正入射,可能你的纸张需要再加厚。因为X光对普通纸张的穿透力很强。

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  • loaferfdu

    第10楼2013/09/11

    应助达人

    你确认一下型号,如果是Epsilon3或者Epsilon3 XL,那么这个就需要考虑滤光片,纸张厚度3-5mm即可,

    如果是Epsilon5,那么这个是三维偏振的,不需要考虑滤光片,纸张厚度请咨询帕纳克工程师。这个机器比较贵,估计国内买的不多,我自己也就在文献中看过。

    lollipop(chengyi0724) 发表:谢谢你。X光是下照式,斜入射。

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