X射线荧光光谱仪(XRF)
仗剑少年游
第1楼2013/10/10
好累,基本完工,大家提问!
sonne86400
第2楼2013/10/11
写的不错欢迎大家跟专家提问
zyl3367898
第3楼2013/10/11
期待楼主写完。
第4楼2013/10/11
篇幅所限,打算将WDXRF单独成篇。
hlyhaha
第5楼2013/10/11
每篇文章都有新启发.疑问;1.测铝矾土的时候,为什么归一化系数是82%啊?归一化系数是怎么算的?2.mylar膜校正是前后测量两次这样算系数吗? 压片的样我们没有加mylar测.3.WDxrf的样品盒也会自旋啊,我们是用的布鲁克的S2能谱,不旋.
秋月芙蓉
第6楼2013/10/11
等待BCIEA做插图么
第7楼2013/10/11
其实还是旋转比较好!S2能谱不转么?不理解为什么这么设计!
第8楼2013/10/11
没有以前压片的照片,你的这个想法挺启发我!有理!
第9楼2013/10/12
样品杯肯定是不旋的,貌似样品杯下面有什么部件会旋吧,样品室有齿轮.加mylar膜的目的是为了防止有灰尘或样品污染仪器内部,但是做mylar的校正系数 ,每种元素的校正因子=未加膜前的强度/加膜后的强度(同等条件)既然未加膜都测了,还是不明白计算这个校正因子有什么用?
第10楼2013/10/12
我可能说的不太清楚。Mylar膜除了防尘,还有承载样品的作用。基本上我们可以认为对钛以后的元素,Mylar形同虚设,基本上不损耗信号。于是我们找几个含有F~Ti范围元素的样品,压片后逐一测量加膜前后的强度,分别测出各种元素的校正因子。如果不做Mylar膜的校正,轻元素含量计算会偏低,越轻越偏的厉害,一旦归一,含量就不对。
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