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能散光谱仪问题：含量怎么不和强度成正比？

hlyhaha

2014/05/07

X射线荧光光谱仪（XRF）

一台能散的光谱仪，用了2年半。

1.目前发现测定的结果有问题，都是熔片的同类样品，同一曲线测定，为什么强度高的含量反而低，强度低的含量反而高？？

列如：图中SiO2，强度是3116的测定结果是82.63%，而强度是3072的测定的结果是88.77%。那个结果是错误的？

强度低的含量高的样品图谱将下图。

强度高一些含量反而低一些的样品图谱见下图。

2.陶瓷片的真空校正也是发现常规元素Na，Mg，Al,Si ,，K,Ca，Mn,Fe 等强度也是一直降低，监控样的各元素测定结果都略比标准值偏高0.1%-0.6%。最后测定样品结果偏高，超过100%。这该怎么办？？

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仗剑少年游

第1楼2014/05/07

跑一下监控样品是啥情况……

0

sonne86400

第2楼2014/05/07

工作曲线重新做然后在测试看看

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hlyhaha

第3楼2014/05/07

所用的这个工作曲线是个大集合，把我们常规的原料都包含进去，大部分都可以用这个测定，有30-40个样品，重做的话这个工程太大了啊。
sonne86400(sonne86400) 发表:工作曲线重新做然后在测试看看

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sonne86400

第4楼2014/05/07

你问问厂家工程师强度变低是不是跟探测器有关同时前后出现测试样品盒质控样出现波动
hlyhaha(hlyhaha) 发表:所用的这个工作曲线是个大集合，把我们常规的原料都包含进去，大部分都可以用这个测定，有30-40个样品，重做的话这个工程太大了啊。

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XRF_INFO

第5楼2014/05/30

这个与软件的校正模型有关系。

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