究竟谱线重叠时，对待测元素的特征波长和干扰波长有啥要求呢？

能量/波长接近便会造成重叠，波长色散还要考虑高次线重叠。还要考虑仪器的元素分辨率，例如能谱的分辨率差，波谱的分辨率好，某些在能谱会重叠的元素，在波谱可能就不重叠。另外波谱也要考虑入射狭缝，用小狭缝能提高分辨率，有时候可以减轻或者消除重叠。

判断重叠，除了一些经典的重叠，很多要从实际样品的测试结果来判断。因为重叠跟很多因素有关：波长/能量的接近程度、仪器的分辨率，还有两个元素各自的强度。例如有时候某种材料中两个靠近的元素各自的含量低，可能不影响，但在另一种材料中其中一个很高，那么另一个低的峰就会被抬高。例如Ni和Cu在低合金钢和镍基合金中的区别。

扫描道的机器好判断，每个待测元素的峰前后扫描一下即可判断，固定道的机器就只能靠经验和谱线干扰表的提示来判断了。

上面介绍的已经很详细了 根据不同基体不同元素 慢慢摸索

应助达人

谢谢你一直以来的帮助，使我进步不少。请关注下面的话题，谢谢

请大家修改WDXRF建立土壤曲线的分析线和干扰线 http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20150111/5614432/

应助达人

谢谢你一直帮助我，楼上说得“波长/能量的接近程度、仪器的分辨率，还有两个元素各自的强度。”——我也能理解，所谓元素的强度是否是指：某个元素含量高强度大，其产生的拖尾峰对其元素的影响呢？

请你关注以下下面的话题，谢谢！

请大家修改WDXRF建立土壤曲线的分析线和干扰线 http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20150111/5614432/