标准加入法可以消除基体的干扰，不能消除背景干扰，怎样才能同时消除背景干扰呢？

应助达人

没用过，不过目前的扣背景方式够一般的民用了，除非军用目的了。
为啥一定AA死磕呢，你也可以用ICP-MS对比啊

应助达人

纠正一下几个概念:一、标准加入法消除的不是背景扰，而是基体扰。二、关于背景消除的方式楼主要学习一下了，有关这方面理论的资料有很多。在本版搜下内容也有不少。我这里简单介绍一下，背景消除严格讲在原吸上叫扣背景，目前有三种方式，分别为氘灯扣背景、塞曼扣背景和自吸扣背景，这三种方式各有待点。楼主提到的双波长应指氘灯扣背景。

谢谢，学习了！
请问目前国内能买到的仪器，支持双波长或者塞曼扣背景的有哪些厂家呢？

双波长法的背景校正性能是十分有限的，且要求的条件十分苛刻。其原理是找一条波长与待测元素分析谱线十分靠近的谱线作为参考谱线，很显然这条参考谱线对待测元素的灵敏度十分低，但是背景吸收与待测谱线十分接近，以此实现背景校正。为某条或者某几条谱线寻找这样的参考谱线很容易，但为所有可用的分析谱线找它们的参考谱线却是很难，更难的是让每一支HCL都能够发射这些参考谱线。因此目前原子吸收根本就没有所谓的双波长背景校正法，这种方法只在分光光度计中被使用。