牛牛0322
第1楼2018/06/06
TEM的放大倍数要比SEM的高,当然两者的成像原理也是不同的,SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM则是穿透试样,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般能放大几百万倍,而SEM只有几万倍。SEM通常看材料的缺口断面,TEM则可以观看材料的内部结构和形貌。
线扫描,用来表示某类元素的变化趋势,一般在相界面或过渡区进行线扫描,主要了解一条线上各个点的元素种类和含量;面扫描就是整个面的元素分布,可以用来估计合金组成或某些元素的富集区,主要了解元素的区域分布;线扫和面扫就是元素种类和含量的一维和二维显示,只能定性的分析元素的分布情况,点扫比线扫和面扫更准确,可基本定量分析元素。
以上介绍比较简单,楼主可以找相关书详情了解一下
牟晓明
第3楼2018/06/07
谢谢啊,你看我理解的对不对,主要针对透射电镜,能谱(EDS)分为TEM模式、STEM模式下的,即TEM-EDS、STEM-EDS,
STEM-EDS又可以进行点扫(Point scan)、线扫(Line scan)、面扫(mapping scan ),我这概念的划分对吗?