SEM中信号检测相关问题

1.二次电子能量与入射电子能量相同，激发任何物体都会产生二次电子
2.Super ExB可以调节图像中二次电子像所占的比例。la100是完全抑制二次电子，看的基本就是背散射，图像没有立体感。la0，是不抑制，二次和背散射都有，图像有立体感。

谢谢！按你所述，1，就是背散射电子激发然后行程二次电子，间接去探测背散射电子，为什么不直接探测背散射电子，是因为环形探头的专利原因吗？2.LA是什么的缩写？ExB和SuperExB的结构是一致的吗？SU9000是SuperExB?

据介绍，这样设计的目的是在二次电子中加入背散射电子使图像更加丰富。当设置LA=100时，二次电子被完全抑制，就只有背散射图像。使用更加灵活。

您说的这种情况是针对uper detector吧？top detector主要是探测HA BSE成份像吧？

转化探测器主要根据是低能电子具有更高的二次电子产额特殊设计，转化极使用特殊材料还可对背散射电子起到一定放大作用。
这种设计有年头了，不足为奇！
根本原因：半导体对低能背散射电子探测效率低下，使用这个方法很大程度上就解决问题了。

你好，并非非得转化才能探测低能背散射电子，因为除了半导体背散射探测器，还有闪烁体材质的啊，好多厂商都有在用的！

闪烁体需要高压才有好的量子效率，否则没法用。
镜筒内空间太小，
另外高手们都有自己的秘笈，小小的转化膜层，估计就得个博后搞很长时间

确实如此，但是没清楚你说的什么。转不转化与探头有什么关系？难道他们不是闪烁体材质

我觉得他们转化的目的是便于采集信号，因为他们是侧探头，低能电子便于吸引