楼主满意否我不知道,但我很不满意,您讲的都错了。
二次电子的产率几乎不受加速电压的影响,这个很难让人相信,但是是事实。
样本的影响对二次电子的产率也很小,只有在轻元素区有一定的影响。
请您参考我以前的每周一问帖子,希望会有帮助。
redskinworm 发表:二次电子有可能被吸收,成为吸收电子。但探头是靠逸出的二次电子成象的,跟吸收电子没关系。而跟二次电子的数量有关,二次电子的数量主要决定于样品的二次电子产出率,加速电压,倾斜角度等。
二次电子的产出深度在10NM一下,但穿透深度跟样品、加速电压等有关。这2个是不同的概念。
不知楼主满意不?