请教什么是“结构背景”

应助达人

原子吸收分析信号中的背景吸收,按照其来源和光谱特性,大体可分为4类。第一类是与波长无关的背景吸收，主要由分析体积内的颗粒散射导致；第二类是随波长缓慢变化，在一定光谱范围类呈连续变化的所谓连续背景，主要由分子的光致离解所致；第三类是在一定范围内呈宽大吸收峰的基团特征光谱，如CN分子光谱等，在原子吸收仪器的光谱带宽内可以等同于连续背景；第四类由分子的转动和振动能级跃迁所指，呈尖锐的吸收峰形状，又称结构背景。通常在光谱域上呈现出尖锐峰形或者快速变换形状的背景称为结构背景。


氘灯校正背景，是利用空心阴极灯锐线光源与氘灯发出的连续辐射光源两次分时测得吸光度相减扣除背景吸收。针对前面三种类型，也就是连续背景！

结构背景可以采用塞曼效应校正。

应助达人

谢谢安老师，这个结构背景在测量和校正中都是存在的，怎么抵消不了呢？是因为结构背景对应的吸收波长处的光强氘灯比HCL弱的原因么

夕阳(anping) 发表:

应助达人

原本应该是阴极灯观察到的背景信号与氘灯观察到的信号一致，如此（A+B）-B=A 才能成立。但是由于阴极灯是锐线光源而氘灯是连续光谱，加之狭缝的原因，当遇到结构背景时，上面的校正公式就变成了：（A+B1）- B2 ＜A 了。遇到这种情况只有塞曼背景校正方式才可以克服。

另，发现楼主最近对原吸非常感兴趣，频频在原吸版面“求学”，如果真是有此意愿，我建议还是买几本理论书籍好好系统学习一下，比这种零敲碎打学得扎实。

应助达人

谢谢安老师，我手头的理论书讲的不够详细，加之理解力不够，所以频频求教.

我的理解是，狭缝是固定的，测的都是狭缝范围内的光强，结构背景是精细谱线，那在锐线光源、氘灯光源中的吸收多少差异，只能由对应波长处的强度决定了，HCL的锐线部分肯定比氘灯波段的强度大，但锐线附近部分光强是怎么呢？

还是我应该这么理解，结构背景的锐线吸收淹没在背景分子的带状吸收中？

再次感谢！

夕阳(anping) 发表: 原本应该是阴极灯观察到的背景信号与氘灯观察到的信号一致，如此（A+B）-B=A 才能成立。但是由于阴极灯是锐线光源而氘灯是连续光谱，加之狭缝的原因，当遇到结构背景时，上面的校正公式就变成了：（A+B1）- B2 ＜A 了。遇到这种情况只有塞曼背景校正方式才可以克服。

另，发现楼主最近对原吸非常感兴趣，频频在原吸版面“求学”，如果真是有此意愿，我建议还是买几本理论书籍好好系统学习一下，比这种零敲碎打学得扎实。

为安老师点赞

应助达人

由于阴极灯的发射的谱线是锐线光（pm级），故所观察到的背景平均值是B1。此时背景校正公式为：（A+B1）- B1 =A

而由于氘灯发射的是连续光谱且狭缝较宽（nm级）的原因，故所观察到的背景平均值是B2；正常时 B1=B2。

当氘灯观察的背景信号中有结构背景的存在时，则B2＞B1；此时背景校正公式是：（A+B1）- B2 =A1；

由于在没有结构背景存在情况下是：（A+B1）- B1 =A；二者相比较 A＞A1。如果结构背景的强度越大，这个差值也就越大。

结论：有结构背景存在的情况下，采用氘灯背景校正的方式会使测试真值下降。这与阴极灯和氘灯的发射强度无关。

另，只有塞曼背景校正方式的仪器可以克服结构背景干扰。

learner1999(learner1999) 发表: 谢谢安老师，我手头的理论书讲的不够详细，加之理解力不够，所以频频求教.

我的理解是，狭缝是固定的，测的都是狭缝范围内的光强，结构背景是精细谱线，那在锐线光源、氘灯光源中的吸收多少差异，只能由对应波长处的强度决定了，HCL的锐线部分肯定比氘灯波段的强度大，但锐线附近部分光强是怎么呢？

还是我应该这么理解，结构背景的锐线吸收淹没在背景分子的带状吸收中？

再次感谢！

又学到新知识了谢谢大神

应助达人

谢谢安老师的指教！晚辈不才，再认真思考思考。除夕之夜，祝您新年快乐，身体健康！