【求助】SPECTRO GENESIS 分析硫酸镍工艺中杂质金属离子的问题

又一天过去了，难道真没人能解答我的问题么？

首先我不是老师.我们可以共同探讨.一、等离子体功率不是一成不变的，而是根据实际情况进行改变的，难激发的金属，功率大些，我也用SPECTRO的设备，感觉功率是？—1700W可调的吧。
二、要是存在谱线干扰，你可以试试其它谱线呀。按理说谱线有很多可供选择的。我们现在主要靠谱线的选择来消除大部分光谱干扰。

我看你的标准 溶液和试样的溶液基体好象存在差异，要是不进行背景校正就测量，测量的风险很大哟。仪器的自动背景校正指的是你选择合适的背景扣除点后，仪器自动计算“纯强度”，标准就根据背景校正浓度进行拟和。而对于试样，由于基体存在差异，势必造成试样的背景高于标准的背景，在进行试样测定时，仪器会自动对试样进行背景校正，标准和试样的背景扣除的值往往是不一样的。
在峰没有歧变的情况下，你选择一个连续谱上较平坦的地方作为背景扣除点即可。要是两边背景高低不一，两边都选，根据情况选择背景是一次还是多次拟和。多次拟和变会出现一条曲线，一次，便是取了两边的平均值。

楼上的老师（三人行，必有我师焉。知其然为长，知所以然为师。）：
SPECTRO GENESIS采用的背景扣除是在它的随机软件Smart Aualyzer Vision的Method-->Line Definition下Load对应谱线扫描形成的峰状强度图上自定义Background left/right的起始位置。如Ca 317.933，如果要对其进行背景扣除，那么我们就在Background left（左背景）起始框里填写317.850，终止框里填写317.920，那么，系统会在这两个波长之间画一条绿线，保存之后再测同一样品，Ca含量会测得比之前的要低。于是我猜想这便是这仪器标准扣背景的操作。（只是举例，事实上到底扣背景的依据是什么，我也不知道。）
热电仪器上的扣背景跟斯派克的不一样，我记得有关论文是说2，14，之类的。可是，似乎在这仪器上找不到任何有关2，14的东西……

对我的样品，ICP光谱群的一位老师昨天跟我通了语音，提出对那些Ni基、Na含量高的样品先以丁二酮肟重量法将Ni除去，然后再对单独的Na离子进行系数校正或基体匹配。在他的帮助下，今天的实验取得了比较满意的结果——至少，不会测出让人笑掉大牙的数据了。比如泡沫镍中Ni的含量为99.99%，测得Zn为9.6%，Co为4.3%之类的。所得数据现在和标准样品接近，接下来就是背景的问题了。希望楼上的老师能根据我所描述的问题给予再次赐教！

你所说的哪条绿线就是左右背景的平均值.我一般不采用输背景位置,而是用鼠标在谱图上点取.
对于背景校正我也比较业余的,我测量的东西背景没有你的样品复杂,谱线比较干净,背景扣除一般比较简单的.
对于钠这样易电离的物质,这方面的书籍应该不少,你在网上搜索一下就可搞定,因为好象这曾经是分析界研究的热点问题.

还有,你不是在扣背景前对Ca进行测量了吗?按照SPECTRO的仪器,你可以在背景扣除后,对先前测量的样品进行重新计算.你就可以明显认识到两个结果存在差异,这就说明背景校正起到作用.
具体做法好象是:在METHOD 窗口下指定背景扣除点后,保存.重新计算方法,然后在测量窗口,调出先前的测量数据,选取重新计算.

这个我做过的。绿色的线移动一点点，带来的浓度影响就很大，那绿线又那么长的范围，加上左右移动……估计这样尝试着把一个元素教准都要一个星期吧。听人说是尽量在平坦的地方扣，但到底什么叫平坦……这个，貌似太模糊了。
至于Na，对任何原子吸收，发射，影响都大。箭大哥索性让我去找试剂把Na沉淀……上帝啊，我们是做生产监控，等我花两个小时把结果做出来，估计公司都倒闭了吧。

你的这个情况建议你联系spectro的应用工程师吧！！你貌似软件的不熟悉。而且最关键的，你找点ICP光谱方面的书来学习以下吧。你的这个问题不是几句话就能解决的。

我这有些通过spe固相萃取技术降低基体效应的资料，应该对你很有帮助，若需要的话和我联系，我发给你。martin_dj@126.com