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| 型号: | Echo |
| 品牌: | 艾尧仪器 |
| 产地类别: | 进口 |
| 产地: | 马来西亚 |
| 厂商性质: | 一般经销商 |
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| 更新时间: | 2026/06/30 |
艾尧仪器光学薄膜测量
艾尧仪器Echo
进口光学薄膜测量
Echo声学薄膜厚度计量系统
产品介绍:
Echo System是金属薄膜厚度测量的行业标准。Echo系统可在所有金属薄膜上提供良好的性能,并针对在逻辑、内存和 3D 封装工艺中至关重要的薄膜单层和多层应用进行了优化。Onto Innovation 的PULSE技术提供了一种非接触式、非破坏性技术,可测量产品晶圆上多层金属薄膜叠层中每一层的厚度,而不会受到底层或层级的干扰。与光学和 X 射线技术不同,PULSE 技术使用时间分辨声学信号测量薄膜厚度,该声学信号可用于有源芯片,无需特殊的计量测试场所。
性能特点:
使用飞秒超快激光进行在线光声测量
小光斑尺寸 (8x10µm) 可在 15µm 的场地尺寸内进行测量
超越节点要求的内在工具对工具匹配
EASy 建模算法
用于维护车队控制的配方管理器
偏移检测
技术参数:
高达60 WPH 的高吞吐量
金属薄膜的典型厚度为 5nm 至 8µm,可选择延伸至 35um
能够处理 150、200、300 和 450 毫米晶圆的自动化选项
艾尧仪器Onto声学薄膜厚度测量系统Echo由上海艾尧科学仪器有限公司提供,产地为马来西亚,属于进口光学薄膜测量,符合多项国家和国际分析标准, 广泛应用于生物研究、石油化工、能源、电子/电气、钢铁、航空航天、半导体、军工、机械、材料等领域,艾尧仪器Onto声学薄膜厚度测量系统Echo凭借其创新性与实用性,在光学薄膜测量用户中获得广泛关注。
根据艾尧仪器官方产品资料显示:艾尧仪器Onto声学薄膜厚度测量系统Echo的价格为面议,具体型号是Echo,品牌为艾尧仪器。
在同系列产品中,您还可以选择以下型号:
产品名称 |
品牌 |
型号 |
产地类型 |
价格 |
|---|---|---|---|---|
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Onto晶圆FTIR外延层厚度测量仪
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艾尧仪器 |
Element S |
进口 |
面议 |
客户服务热线:400-616-7676,1611(售前/售后支持)
官方链接:https://m.instrument.com.cn/netshow/SH104306/C495369.html
来源:上海艾尧科学仪器有限公司