Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统
Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统
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Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统

参考价:面议
型号: F20
产地: 美国
品牌: KLA
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核心参数
KLA Instruments科磊仪器部
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产品详情

Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统 

世界上最畅销的台式薄膜厚度测量系统

只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.

选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)


包含的内容:

  • 集成光谱仪/光源装置

  • FILMeasure 8 软件

  • FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)

  • SS-3 样品平台 及對應 光纤电缆

  • 参考材料

  • 厚度标准

  • 整平滤波器 (用于高反射基板)

  • 备用灯


型号规格

型号厚度范围*波长范围
F2015nm - 70µm380-1050nm
F20-EXR15nm - 250µm380-1700nm
F20-NIR100nm - 250µm950-1700nm
F20-UV1nm - 40µm190-1100nm
F20-UVX1nm - 250µm190-1700nm
F20-XT0.2µm - 450µm1440-1690nm
F3-sX 系列10µm - 3mm960-1580nm


取决于薄膜种类

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额外的好处:

  • 每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种

  • 应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)

  • 网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)

  • 硬件升级计划



常见的选购配件:

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SampleCam

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StageBase-XY10-Auto-100mm

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多厚度硅基上的二氧化硅标准

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可追溯的 NIST 厚度标准

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接触探头

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携带箱




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KLA Instruments科磊仪器部为您提供KLAFilmetrics F20台式薄膜厚度测量系统,KLAF20产地为美国,属于进口白光干涉测厚仪,除了Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多白光干涉测厚仪,KLA客服电话400-801-5101,售前、售后均可联系。

售后服务
  • 产品货期: 30天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训
  • 安装调试时间: 到货后7天内
  • 电话支持响应时间: 24小时内
  • 是否提供维保合同:
  • 维修响应时间: 2天内

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