型号: | F60-C系列 |
产地: | 美国 |
品牌: | KLA |
评分: |
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Filmetrics® F60-c系列能够像我们的F50产品一样对薄膜厚度和折射率进行测绘,但它还包括许多专门用于生产环境的功能。这其中包括自动寻找v-槽、自动基准校正、运动联锁装置的封闭式测量台、已安装软件的工业计算机, 以及晶盒及机械手臂自动传输。新款F60-c融合了Filmetrics 多点膜厚测量技术与KLA Instruments™ 产线自动化传片模组。
不同的F60-c仪器主要通过测量厚度和波长范围来区分。通常测量较薄的薄膜需要较短的波长(例如F60-c-UV),而较长的波长则适于测量较厚、较粗糙和更不透明的薄膜。
集成光谱仪/光源装置
6" 和 200mm 晶圆反射率标准
TS-SiO2-8-8000 厚度标准
真空泵
备用 LAMP-THF60 灯
每台系统內建超过130种材料库, 随着不同应用更超过数百种
应用工程师可立刻提供帮助(周一 - 周五)
网上的 “手把手” 支持 (需要连接互联网)
硬件升级计划
型号 | 厚度范围* | 波长范围 |
---|---|---|
F60-c | 20nm-70µm | 380-1050nm |
F60-c-UV | 5nm-40µm | 190-1100nm |
F60-c-NIR | 100nm-250µm | 950-1700nm |
F60-c-EXR | 20nm-250µm | 380-1700nm |
F60-c-UVX | 5nm-250µm | 190-1700nm |
F60-c-XT | 0.2µm-450µm | 1440-1690nm |
F60-c-s1310 | 7µm-2mm | 1280-1340nm |
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