方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | ISO 9001:2008 AS9100C |
MT1000和MT2000混合信号有源负载牵引系统是经过商业验证的非常受欢迎的解决方案，能够在高达每分钟1000阻抗/功率状态的高速下执行负载牵引
MT1000和MT2000混合信号有源负载牵引系统是经过商业验证的非常受欢迎的解决方案，能够在高达每分钟1000阻抗/功率状态的高速下执行负载牵引，在以下条件下不限制史密斯圆图覆盖范围：
· 单音CW和脉冲CW射频信号
· 直流和脉冲直流偏置
· 时域NVNA电压和电流波形和负载线
· 频率介于1 MHz和40 GHz之间
在上述条件下具有高幅度反射系数的高速负载牵引对于：
· 由于更快的测量速度，缩短了产品上市时间
· 减少传统被动机械负载牵引系统造成的瓶颈而不会降低精度
· 验证非线性紧凑模型
· 提取非线性行为模型
· 研发，设计验证测试和晶圆上生产测试
此外，MT2000是经过商业验证的非常受欢迎的解决方案，能够在基频，谐波和基带频率下实现高达500 MHz带宽的宽带阻抗控制，非常适用于：
· 在宽带PA电路的设计中使用ACPR和EVM测量数据
· 基于受控基带终端提高PA线性度
· 在真实的天线负载条件下评估DUT的性能
· 在不同的匹配网络拓扑下评估DUT的性能
MT1000和MT2000是交钥匙单盒负载牵引解决方案，取代了通常由无源基波和/或谐波阻抗调谐器，VNA和/或NVNA，模拟信号发生器，矢量信号发生器，矢量信号分析仪和示波器执行的功能，并添加高速负载牵引测量的能力和调制信号的宽带阻抗控制。
Key Features (Typical Performance)
> Broadband system concept (e.g. 0.7-40.0 GHz)
> Re-configurable hardware; single-ended, differential and number of controlled harmonics
> High speed and dynaic range
> Embedded measurement of (Pulsed/Isothermal) DC parameters
Single Tone
>" Real-time“ measurement speed>1,000 power and load states per minute
> Multi-dimensional parameter sweeps
> (Pulsed/Isothermal) High Power testing
> measurement of calibrated Voltage and Current waveforms
> Device protection included
> Waveform reconstruction
Modulated singals
> wideband modulated singals(e.g. multi-carrier WCDMA) up to 240 MHz
> Modulated Signal Library Included
> Losses and delay of cables, probers etc, are eliminated
> Upload the s-paramenters of any " Virtual matching networks" and get a one-to one agreement with your board design (also for linearity)
> Dvice testing with digital predistortion
This novel mixed-signal load pull system is designed to handle realistic wideband complex modulated signals with a high dynamic ranged and provide user defined reflection coefficients vs. frequencey at the DUT reference planes
The system concept is based on:
> IQ signal generation , synthesized with fully synchronized arbitrary waveform generators(AWG)
> Wideband A/D converters to measure the wideband reflection coefficient
文献贡献者
半导体一体化晶圆级/封装级可靠性测试系统
GBITEST-DC 直流光电器件测试系统集成解决方案
射频微波前端芯片全自动在片测试和封测解决方案
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