shaweinan
第1楼2008/11/06
样品基体(matrix)是指具有各自性质的所有成分的集合,这个“所有成分”似亦应包括分析物,但不包括添加剂。由基体各成分对被测元素分析信号测量的联合效应,即为基体效应(matrix effect),也就是说它是除添加剂以外的所有附随物的联合干扰效应。
既然分离金和不分离金两种状态下Be测量的结果有些谱线测量值一致,而一些却差很远,那表明至少结果差得很远的谱线很可能存在光谱干扰,说得更明确一些就是存在谱线重叠干扰。
shaweinan
第4楼2008/11/08
[div]原文由 zb_hongyu 发表: 老沙,我看了谱图,光谱干扰可能性不大,我觉得会不会是溶液总盐不一样,而造成激发/或热交换差异?[/div]
溶液中盐含量高时一是会改变溶液的物理性质,从而影响样品溶液的提升、雾化和进样过程,二是会增加等离子体的负载。因为你测的是同一元素,只是选用的谱线不一样,所以结果不一致不会是由进样过程、蒸发气化过程和原子化过程造成的,如果可以确定不存在光谱干扰,那么当你测Be所用的分析线都是离子线时,那应该是激发过程,如果一条是原子线另一条是离子线,那可能是由激发过程或电离过程引起的。因为ICP光源中本身就存在比较高的电子密度,所以由电离过程产生的影响通常很小。由激发过程产生的原因是因为样品中的某种元素具有和被测元素分析线相近的激发谱线,在这种情况下,又很容易会出现谱线重叠干扰,不知道你的样品中主要成分都有什么?