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【求助】介孔薄膜XRD有介孔结构，询问这样的强度是否可以从TEM看出孔状结构（急）

peggychenpy

2009/04/22

透射电镜（TEM）

这是介孔氧化硅薄膜，用日本理学测试的（40KV，30 mA，Cu靶），附件是小角度衍射图谱，从图中看出是有介孔结构，但强度不太强，所以想问一下，是否可以从TEM中看出孔状结构？如果可以，大概怎样做样品前处理，还有哪里做比较好？

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天黑请闭眼

第1楼2009/04/22

你的XRD图谱是直接对薄膜做的？还是刮下来的？
另外，图谱如果只有一个信号峰，很可能是wormlike孔道，如果想得到有序结构，还得继续努力！

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天黑请闭眼

第2楼2009/04/22

附件呢？没传？

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peggychenpy

第3楼2009/04/22

不好意思，新手，忘了发附件，我这个样品是直接测试的，没有刮下来的

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peggychenpy

第4楼2009/04/22

我声望没达到50,但我发附件.但这个附件要等所在版面或巡视等验证后,才能显示.所以不知道什么时候才能显示

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怪味陈皮

第5楼2009/04/22

你的XRD图没有发上来,发上来后自然会有人验证,验证通过后就会显示.
peggychenpy 发表:我声望没达到50,但我发附件.但这个附件要等所在版面或巡视等验证后,才能显示.所以不知道什么时候才能显示

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天黑请闭眼

第6楼2009/04/23

楼主似乎在小木虫也发帖问了，已经有牛人给解释，呵呵。

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