扫描电镜(SEM/EDS)
ttkl533
第1楼2010/03/17
有谁知道吗?
驰奔
第2楼2010/03/17
25微米做纵切面,一般的手段确实比较难弄。难道镀膜只在细丝的端部吗?如果是横截面相对比较容易处理,按照金相制样的方式把一簇用镶样机镶嵌在树脂中,研磨抛光后看bse像,应该很容易。
第3楼2010/03/18
首先感谢您的相助!整根丝的表面都有镀层,但是25微米的丝强度比较低,集束时容易变形,觉得横截面样品不好做才想用纵截面。没有更好的办法了吗?
第4楼2010/03/18
怎么没人回答我?
毒菇九剑
第5楼2010/03/19
可以考虑用FIB切截面,然后用SEM观察,最好用双束比较方便
第6楼2010/03/22
不好意思!请问“FIB”是什么意思?非常感谢!
wuthering
第7楼2010/03/23
聚焦离子束(FIB)(Focused Ion Beam) 主要特点1.高精度及高切削速度。 2.微样品制备成为可能。 3.降低了对样品的损伤。 4.更宽的束流能量范围不过楼主我觉得你说的样品导电性差难以理解。。。。觉得三楼的方法可以试试
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第8楼2010/03/24
这个有点难阿。楼上说的镶样法可行。
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