X射线荧光光谱仪（XRF）
abcdefghijkl123
第1楼2011/03/19
我们单位正计划购买一台X射线荧光光谱仪
金水楼台先得月
第2楼2011/03/19
测定短波长 X 射线时，或者分析主成分为轻元素的样品时，如果样品的厚度不够，即使测定组成相同的样品，X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图10.6 是 Ni 箔样品中 Ni 的荧光 X 射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变的情况下，X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄膜分析之外，易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。
bennaiyou
第3楼2011/03/22
质量影响因子，不太了解。
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